顶尖分析服务商-胜科纳米将参展IIC 2014

IIC 2014将在今年9月2日至9月5日在深圳会展中心盛大召开。顶尖的独立第三方实验室胜科纳米也会在现场开设展会与观众交流。胜科纳米专业于为产品、项目的设计、生产提供专业快捷的分析报告；拥有开放的专业分析平台及高水平的实验室设备，如：高分辨透射电镜（HR-TEM）, 双束聚焦离子束（Dual Beam FIB），场发射扫描电镜（FE-SEM），飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS），动态二次离子质谱仪（D-SIMS），X射线光电子能谱仪（XPS/ESCA）等。

在IIC 2014上，观众可以了解到以下的新技术:

电性分析：Decap, X-ray, C-SAM, TDR, Thermal imaging, EMMI, OBIRCH, TIVA, Micro-probe, C-AFM, AFP;

物性分析：Delayer, RIE, SEM, DB-FB, HR-TEM, Ion Miling, EBSD;

材料分析：EDX, FTIR, TXRF, TOF-SIMS, D-SIMS, XPS, Auger, AFM, ICP-MS, XRD, XRF

静电测试：HBM/MM, Latch up, TLP

胜科纳米同时可以向客户提供完整的分析方案，帮助客户找到失效的根本原因。

这些新产品将可以应用于芯片设计， 晶圆厂，封装厂，面板厂，硬盘，电子元器件，LED，太阳能，生物纳米，纳米科技，设备厂，国防工业。

就2014市场热点，胜科纳米表示，随着目前半导体相关产业的设计及工艺不断发展，相关的结构及材料分析将趋向于更高端更精密的分析领域发展。同时第三方分析实验室在提供单项分析服务的同时，需要不断增强其提供全方位、全套分析服务及相关设计方案的能力。

在IIC 现场，您将可以与胜科纳米的市场总监-傅超，技术运营总监-华佑南面对面交流！马上报名吧！