BitifEye还观察到，如今新一代员工对于机械性重复操作非常不感兴趣，若坚持采用传统的方式来操作，会导致人员的异动频率越来越高，从而衍生出重复从业培训与人员衔接困扰、以及人为操作失误机率升高等问题。另外，不当操作也会让配件与夹具快速损耗，最后造成测试质量难以管控等风险。
数字化浪潮席卷各行各业，其中高速数据传输接口一直扮演不可或缺的角色。但如何为产业提供最佳的高速数据传输接口产品？此时，就必须透过优良的测试工具来确保质量。专心致力于接收端高速数字自动化测试(high-speed digital receiver testing)的BitifEye，汇聚了一群专业并且洞悉软硬件技术的工程师，并配合是德科技(Keysight)的硬件设备，提供了专业且灵活的测试解决方案。这使得BitifEye在近10年中，持续成为接收端高速数字自动化测试领域的领导品牌。
市场需求升温，BitifEye聚焦高频开关
由于高速数字验证标准快速提升，再加上在单一设备中支持多种传输技术的发展趋势，使得测试工作变得相当复杂，且测试硬件成本也随之上扬。因此用户无不关心在需要更昂贵仪器及更多时间来进行测试的项目中，如何提高测试效率并早日推出产品。鉴于此，BitifEye认为，具备更灵活、更高效率、可提高测试效率的相关测试产品，将是协助用户致胜的关键之一。
为此，在接收端高速数字自动化测试市场中，BitifEye主要聚焦在高频开关产品。BitifEye表示，高频开关可以依照不同应用、需求去配置系统。目前，BitifEye提供2对1、4对1、6对1、8对1等不同Port数的模块，各模块又分为50欧姆端接(Terminated)和开路(Unterminated)，这些配置都是为了符合不同应用与测试场景。
举一个PCIe的用例来说，测试发送端(Transmitter)时，需要用到Terminated型态，让处在非测试状态的其他通道信号，能符合规范要求，即在50欧姆阻抗匹配条件下能持续发送标准发送端测试信号，等候仪器与开关的后续测试。整个测试流程为：示波器软件先控制开关到第一个通道，之后开始根据使用者勾选的测试项目来进行测试。当此通道测试项目都完成后，软件接着控制开关切换到下一个通道，再持续进行同样的测试，直到所有设置的通道测试都完成，最终得出一个多通道的完整测试报告。测试过程完全自动化，不需要人工去切换或是更换接线，从而可大大提高测试效率，降低人为误差、还可减少高频接头损耗。
图1：PCI-Express应用开关配置示意图。
图2：8通道PCIe发送端测试示意图。
当测试接收端(Receiver)时，被测件的发射端一般需要改用Unterminated模块。因为测试接收端时，重点是测试该接收通道对于抖动信号的容忍度，这时，通常不应该对非测试通道下的发送端进行50欧姆端接。如果被测设备发现50欧姆端口阻抗匹配，就持续输出发送端测试信号的话，就会造成额外干扰。当然，被测件接收端部分的开关模块，还是持续使用Terminated模块，避免开路时的噪声或电压误触发接收端。这时ValiFrame软件同样也会控制开关与误码率分析仪(BERT)来完成测试流程。
图3：8通道PCIe接收端测试配置示意图。
在BitifEye的官方网站上，提供有针对不同应用场景的多种开关选用建议。当然工程师也可以自行依照内部研发、验证需求来配置所需要的模块，透过Python程序来控制开关与仪器，完成高效率的测试流程。
不仅如此，BitifEye产品在测试功能的灵活度上，可以说是其他供应商无法相比的。举例来说，BitifEye所推ValiFrame软件的Expert mode，允许工程师调整综合测试环境，例如增加额外的抖动测试频点；而另一套Frame Generator软件则进一步提供Debugging，工程师依据自己的纠错需求，可用来检验芯片的质量状况。BitifEye在业界中支持最广泛的测试方案，从PCIe、USB、HDM、MIPI C/D/M-Phy到SATA等高速数据传输接口。此外，除了测试软件，BitifEye同时还提供各应用所需的测试夹具、线缆与配件。透过为业界提供完整的测试方案，尽力协助相关厂商，灵活、快速、准确地测试产品。
BitifEye专业价值协助客户最大化投资效益
由于BitifEye测试产品的特性与优势，使该公司产品获得了世界前几大知名公司的青睐。为更进一步协助客户解决测试难题，BitifEye亦展现其专业价值，除了直接提供标准自动化测试配置外，还与工程师直接讨论客户内部使用需求，透过双方专业知识的交流与讨论，让测试工作得以变得更顺利和更有效率。这样，工程师就可以把时间花在更具价值的地方，而非重复性操作上。
BitifEye还观察到，如今新一代员工对于机械性重复操作非常不感兴趣，若坚持采用传统的方式来操作，会导致人员的异动频率越来越高，从而衍生出重复从业培训与人员衔接困扰、以及人为操作失误机率升高等问题。另外，不当操作也会让配件与夹具快速损耗，最后造成测试质量难以管控等风险。因此，BitifEye认为，在不同领域测试中，需要考察芯片规范定义、测试流程、也包含仪器配置接法等，最后提出一个高效率自动测试方案，并使得在仪器环境成本上的投资效益最大化。而这也是BitifEye致力研发整体测试解决方案(从测试仪器、软件到夹具、线缆和配件一应俱全)的最大动力与目的。
因此，BitifEye希望让更多工程师能够采用到更人性化、更高性能的测试技术方案。在BitifEye官方网站上，亦提供了各种不同用例的开关选用建议。欢迎访问并了解BitifEye开关产品的优势以及为测试所带来的诸多效益。
本文为《电子工程专辑》2023年12月刊杂志文章，版权所有，禁止转载。点击申请免费杂志订阅
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