作为从业者,会如何看待先进封装的发展趋势?对不同先进封装技术的现状和发展又有怎样的见解?日前,长电科技首席技术官李春兴(Lee Choon Heung)先生,与美国Semiconductor Engineering网站进行了一次涉及半导体市场前景、摩尔定律、小芯片(Chiplet)、扇出型封装(Fan-out)等市场与行业热点的对话。
李春兴 Lee Choon Heung
李春兴博士自2019年5月17日起出任长电科技首席技术官,拥有美国凯斯西储大学理论固体物理博士学位。
李春兴博士在半导体领域拥有20多年的工作经验,曾任Amkor Technology首席技术官、全球制造业务执行副总裁和Amkor韩国总裁。李博士撰写有各种封装技术相关课题的研究论文,拥有韩国专利38项,美国专利21项。
以下为对话摘录(SE=Semiconductor Engineering):
SE:我们现在处于半导体周期的哪个阶段?
李春兴:2020 年整个半导体行业的增长率约为10%。到2021年,预计将增长将达到24%左右。今年较高的增长可以归因于新冠疫情的影响——大家都在购买各种电子设备,保持与外界的连接。如果对2022年做个预测,增长率可能只有个位数字。尽管如此,就半导体复合年增长率或CAGR而言,不考虑通货膨胀或其它因素,只是看半导体市场本身,这个(增长)仍然是很稳定的。只有2021年比较特殊。
SE:芯片市场有哪些主要驱动因素?
李春兴:汽车行业是推动力之一。尽管存在芯片短缺,但汽车行业仍在增长,电动汽车、自动驾驶等正在推动(芯片市场)增长。现在汽车行业一直关注安全性,与安全相关的功能,例如传感器或者高级驾驶辅助系统(Advanced Driving Assistance System, ADAS),都是芯片在汽车行业应用增长的推动力。许多汽车产品中,每辆车的电子设备费用达到600美元,而且汽车中的电子设备还将增加。然后还有5G相关应用,比如“车与车”交互,这推动了高端信息应用市场。这些技术现在仍处于早期阶段,不过每个汽车制造商都在关注这一领域。
SE:还有什么在推动半导体市场,对封装有什么影响?
李春兴:另一个驱动因素是人工智能。人工智能涉及高性能计算(HPC)。我们看到与AI或HPC应用相关的FcBGA需求很大。这其中还包括2.5D、3D或高密度扇出型封装产品。云计算是人工智能应用的一个大市场,数据中心行业的需求持续提高,他们需要更好的产品以提高效率并降低运营成本。这部分的市场规模正在以惊人的速度增长。
SE:那 5G 呢?
李春兴:5G是通信领域的重要部分,但5G尚处于早期阶段,还没有进入成熟阶段。由于新冠疫情,一些国家推迟或放慢了5G的基础设施建设,预计明年5G基础设施建设将提速。手机制造商也非常重视将5G功能纳入其智能手机产品。对于OSAT企业,5G是一个很大的驱动力,我们也一直在为5G应用部署相关生产设施,尤其是系统级封装 (SiP)。另外5G还涉及AiP——即封装天线这种新型的封装技术。
SE:您如何看待摩尔定律?
李春兴:摩尔定律所说的“芯片密度每两年翻一倍”这种情况很难继续发生了,它并不是彻底失效,但正在放缓。
SE:此时此刻一些传统的技术正在蓬勃发展。成熟的200mm晶圆需求很大,是这样吗?
李春兴:说起来很神奇,即使在OSAT中,8英寸晶圆级的需求也是巨大的,在某些情况下还要大于12英寸。正如我们所讨论的,汽车行业是这里的一个重要驱动因素,另外还有工业物联网,他们对模拟器件的需求是巨大的。在涉及电动汽车等技术时,功率变得越来越重要。
SE:芯片封装并不是新事物,但几年前它比较边缘,只是封装和保护芯片。然而最近封装在所有行业中变得越来越重要。发生了什么变化?
李春兴:智能手机市场推动了最初的变化。智能手机中嵌入了更多的功能,如果观察3G、4G和5G的演进,就会发现智能手机在同一主板区域内集成了更多芯片,对SiP封装的需求越来越多。随着从3G到4G以及从4G到5G的演进,芯片的大小尺寸(长、宽、高)成为智能手机的关键参数。另一个驱动因素是高性能计算领域。 在先进封封装中,扇出型封装和RDL技术成为封装模式中的基准。
SE:小芯片(Chiplets)是一个热门话题,因为它可以从模块化功能中进行选择。您对此怎么看?
李春兴:很多人都在谈论小芯片。在小芯片出现之前,人们就在想:“我希望在封装架构中拥有不同功能的SoC,而不是传统的单片 SoC。”这是影响封装发展的一个变化。从某种意义上说,这种先进的封装,或先进的产品需要高密度互连。因此,在这种情况下,封装本身不再只是封装单个芯片。在更先进的封装中,必须考虑布局、芯片和封装的互联以及如何布线。这些正在成为元件制造商设计芯片时要考虑的一些基本参数。小芯片封装现已进入市场。这个概念原先来自IDM或元件制造商——他们将封装视为产品性能的一部分。
SE:能再多谈论一些您对小芯片的看法吗?
李春兴:从系统的角度来看,Chiplet是一种多芯片架构。从OSAT的角度来看,问题在于如何真正在封装中优化布局以获得更佳性能。在某些方面,小芯片概念是由元件制造商去定义的,他们设想了拆分SoC的想法。模拟(器件)可能是一个节点。当制造商拥有16nm/14nm/7nm的IP时,需要进一步探索的问题在于如何获得更好的晶圆产量并节省费用。总之从业者正在考虑如何从单片SoC设计中融入多种功能。
SE:2015年,长电科技收购了星科金朋。现在长电科技能提供丰富的封装和技术服务组合,业务遍及全球。接下来有什么计划?
李春兴:长电科技管理层已经提出了未来几年的投入规划。作为OSAT的领先企业,我们会对技术和制造能力进行持续投入。
SE:我们已经看到很多晶圆厂扩大了他们的封装生产能力,例如英特尔、台积电和三星。您对此怎么看?
李春兴:在很多方面,晶圆厂更关注先进的封装形式,这是晶圆厂的前端流程。我们也会专注于自身所长,晶圆级扇出封装就是一个例子。我们正致力于2μm x 2μm线间距的技术开发,从而获得更高性能和更高良率。
SE:让我们谈谈其它封装类型,比如焊线。这仍然是一项大生意对吧?
李春兴:就半导体的产量而言,焊线(封装)约占80%。我们可以看看焊线封装技术的演变,在我们的工厂中,我们可以处理一个芯片中包含2,500根焊线的封装。焊线的优势在于成本和可靠性,引线框封装(Leadframe-based)及LGA封装的价格比较低廉,它的需求量很大,我们也投入很多资源来扩大这类产能。
SE:扇出式封装越来越受欢迎,长电科技对这种技术并不陌生。你们在嵌入式晶圆级球栅阵列(eWLB)有丰富的经验对吗?
李春兴: 长电科技的新加坡工厂是早期的eWLB封装的参与者之一。我们从一开始就使用英飞凌的许可启动了eWLB。扇出是一个分散的细分市场,我们也正在尝试进入不同的细分市场。eWLB适合小批量、多元化的市场,在性能表现方面也很有价值,且具有封装尺寸小的优势。我们仍在关注eWLB市场的增长趋势。
SE:长电科技最近凭借一项名为XDFOI™的技术进入了高密度扇出市场。能否介绍一下?
李春兴:长电科技在今年发布了XDFOI™。这基本上是一种RDL优先,高密度扇出技术。我们正在开发具有2μm线宽和间距的RDL。相比之下,eWLB是10μm/15μm的线宽和间距。我们正在进入高密度扇出市场,为客户提供新的选择。许多人都看到了不需要硅中介层的扇出型封装的价值。因此,长电科技计划为客户提供这种高端扇出产品。
SE:一些公司正在提供可以支持高带宽内存(HBM)内存和其它复杂元件的高密度扇出产品,您对此怎么看?
李春兴:当然,我们也有需要不同内存配置的高密度扇出产品的客户。
SE:高密度封装的线间距是怎样的趋势?
李春兴:目前,4μm x 4μm线间距已经量产(HVM),2μm x 2μm线间距也正在向量产迈进。虽然步进式光刻机可以处理1μm x 1μm线间距,但量产良率仍存在挑战。如果不能解决量产良率,就没有任何价值,所以我们还是更关注高良率。相比之下,采用四层RDL和2μm x 2μm线间距,良率要高得多。
SE:你们的光刻流程是使用传统步进式光刻机还是直写式?
李春兴:我们使用步进式光刻机。我们正在使用先进的系统,可以处理2μm x 2μm线间距。
SE:扇出的最大挑战是芯片移位和翘曲,对吗?
李春兴:在2umx2um线间距这样的尺寸下,芯片移位并不是主要问题。当达到这么高的集成度时,particle才是最大的挑战。
SE:这意味着您需要更多的检查手段?
李:没错。在像10μm线间距这样普通RDL中,底切是1μm。但到了2μm,底切是一个很大的挑战。对比10μm x 10μm与2μm x 2μm,挑战性完全不同。因此,需要非常谨慎地对过程进行优化。
SE:您对面板形式的扇出(panel-level fan-out)有何看法?
李:四五年前我并不乐观。问题出在面板格式方面没有标准,设备也不够成熟。今天这方面的驱动力又来自哪里?面板形式封装要与晶圆级做对比——我不是在谈论市场本身,也不是在谈论哪些客户会采用它。从成本的角度来看,如果一条12英寸线已经折旧了,你想开启一个面板生产线,就必须考虑折旧问题。然后,新产品导入时,需要在面板上进行完整的认证,这是一种不同于晶圆级的调试过程。在一次会议上,我对晶圆级与面板级进行了比较。以7μm x 7μm的编解码芯片为例,假设智能手机的销量约为14亿部,那么就需要14亿个此类封装。那么假设你拥有每月生产20,000个面板的产能,而只需要10,000平方米的面板就可以支撑这14亿个产品。
SE:您对混合键合有什么想法?
李春兴:混合键合在我们的计划蓝图里,这与凸块技术有关。索尼一直在使用混合键合,将之用于CMOS图像传感器。现在,很多人都在研究混合键合,它可以实现高密度的芯片到芯片键合,基本上是铜对铜的粘合。在混合键合中,不用铜凸块上加入银锡合金罩,它只是铜对铜,晶圆对晶圆键合的另一种互连过程。
SE:在现在的先进封装中,芯片使用铜微凸块堆叠和粘合。最先进的微凸块采用40μm间距,相当于20μm至25μm凸块尺寸,管芯上相邻凸块之间的间距为15μm。业界正在致力于开发超过40μm的更细间距,以实现更多 I/O。您对此怎么看?
李春兴:现在,40μm是量产中的常见凸块间距。我们也正在致力于10μm,尝试在这方面建立我们的工程数据。如果客户希望他们产品的芯片到芯片键合间距降低到10μm,我们也能够处理。但是当涉及到小于1μm的间距时,就会变得非常有挑战性。通常这个挑战会由晶圆厂去应对。一般来说OSAT的能力就只到10μm。
SE:您有关注热压粘合吗?
李春兴:没有。我们实际上是采用激光辅助键合(LAB)。LAB将激光束照射到芯片上,其中凸点尖端是Sn或SnAg,用于将它们连接到基板。这提供了比热压更高的UPH(每小时产出)和更强大的互连,它的残余应力比回流焊(MR)小得多。
SE:最后,有什么让你非常担心的事吗?
李春兴:在某些情况下,OSAT与晶圆厂在封装技术上会有重叠,这使得OSAT的业务在投资支出和投资回报率方面有更多不确定性,另外也包括购置自动化专用的制造基础设施时也可能出现竞争。
本文由Semiconductor Engineering授权发布
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