测试点作为一种可测试性设计技术,能够提高测试覆盖率,减少实现故障覆盖目标所需的Pattern数量,但该技术并未得到充分利用。
在本次《使用TestMAX Advisor提高覆盖率和减少Pattern生成数量》网络研讨会上,我们将简要介绍如何使用TestMAX Advisor分析RTL和门级设计,以确定插入测试点的最有效位置。Sanechips将对他们的设计流程做一个全面的介绍,同时展示他们插入测试点的成功案例。
TestMAX系列工具通过自动结合新思科技Synthesis软件产品的分析与实现,轻松部署测试点,以一步到位的方式,优化ATPG和logic BIST结果。
《使用TestMAX Advisor提高覆盖率和减少Pattern生成数量》
日期:2021年07月28日
时间:10:00 AM-11:30 AM
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演讲嘉宾
余建
测试解决方案经理
新思科技
Alex是新思科技测试解决方案经理,专注于领先的测试解决方案和产品开发和部署,帮助客户取得成功,助力方案和应用工程师团队为客户提供可靠、可扩展和高效的解决方案。
李嘉良
DFT经理
Sanechips
李嘉良,2017年7月毕业于西安电子科技大学集成电路设计专业。2015年12月至2016年12月在西安计算机技术学院实习,负责系统验证工作。毕业后进入Sanechips担任DFT工程师至今,并参与了许多VLSI(超大规模集成电路)项目。在此期间,他在7nm/6nm/5nm先进节点上引入了新的DFT技术,特别是在TPI (Test Point insert)流程上,利用TestMAX Advisor提高测试覆盖率,减少pattern数量,并部署在MP项目中。
周姗姗
市场拓展经理
新思科技
周姗姗是新思科技数字设计集团业务部硬件分析与测试组的业务开发经理,其责包括负责监督与亚洲客户开展的DFT技术合作。她曾在著名的半导体公司任职,包括英特尔移动、英飞凌科技和台基半导体(现为美光),负责开发DFT架构,用于逻辑和内存内置自检、探针测试、DRAM测试和硅产量提升。
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