国家知识产权局消息显示,深圳市汇顶科技股份有限公司(以下简称:汇顶科技)“芯片测试头、芯片测试装置及测试方法”专利获授权,授权公告日为6月25日。
图片来源:国知局
专利摘要显示,该芯片测试头包括不透光的壳体与不透光的导电压头;所述壳体设有贯穿壳体底端的中空通道,所述导电压头设置于所述中空通道内,且与所述壳体的内壁紧密接触;所述导电压头在受到按压时沿所述中空通道向所述底端移动,以对位于所述底端的芯片进行测试。
据悉,本申请实施例采用该芯片测试头,将指纹芯片的光学性能测试与指纹检测性能测试集于一体,从而简化了指纹芯片量产测试的流程,有利于提高指纹芯片量产测试的效率、降低成本。
来源:国家知识产权局、集微网
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