IC手记 • 存储器芯片及DDR5

DDR总线经过演进，如今已经发展到DDR5，下图是DDR总线的演进路线：

图：DDR技术演进

无论是从移动计算、PC、服务器到图形计算等领域，总线从早期的低速简单时序特性，到DFE等技术在DDR5中被应用，内存总线在逐步引入SerDes技术，并逐渐逼近通道传输极限。随着DDR5规范的正式发布，步入2021年，DDR5已开始被服务器CPU和存储器厂商所采用，其具备更高的数据速率、更低的能耗和更高的密度。

如前文所属，DDR5具备诸多的优势，也极大增加了测试的难度及复杂度。作为测试行业的领导者，是德科技一直以来积极推动JEDEC DDR5规范测试方案的开发，与行业内的头部伙伴共同推动规范的演进和实施，从DDR总线仿真、测试夹具的定义和开发、Rx测试及Tx测试苛刻的抖动质量要求、再到协议测试方法的开发。是德科技也是唯一一家提供完整DDR5的Tx/Rx物理层到协议测试的方案提供商，如下所示：

图：是德科技DDR5方案

针对DDR生态链中的不同产品形态，是德科技都提供完整的解决方案，如下图，包括发射端测试、接收端测试、协议测试等等，我们在下文会分别予以介绍。

图：是德科技完整的DDR产品形态解决方案

随着信号速率的提升，SerDes技术开始在DDR5中采用，如会采用DFE均衡器改善接收误码率，另外DDR总线在发展过程中引入训练机制，不再是简单的要求信号间的绝对建立保持时间，在DDR4的时代开始使用眼图的概念，在DDR5时代，引入抖动成分概念，从成因上区分解Rj，Dj等，对芯片或系统设计提供更具体的依据；在抖动的参数分析上，也增加了一些新的抖动定义参数，并有严苛的测量指标。

针对这些要求，是德科技提供了完整的解决方案。基于是德科技10bit ADC的UXR示波器，配合D9050DDRC软件，及高阻RC探头MX0023A，及Interposer，可以实现对DDR信号的精确表征。

图：基于UXR的DDR5发送端测试图

随着DDR5信号目标速率持续提升，链路的ISI和串扰问题愈发明显，在DDR芯片颗粒端信号可能已经闭合，为了保证误码率，在DDR5芯片中引入了VGA+DFE的结构，使得均衡后内部眼图重新展开。所以传统的只在DDR memory端测试眼图的方法在DDR5时代并不是一个合理的方法，是德科技针对这种情况，推动了DDR5新的测试方法，即Rx测试。

下图为基于UXR示波器及M8020A误码仪的接收端校准和测试组网：

是德科技和协会及相关公司共同定义了测试夹具，如CTC2测试基板夹具，Device芯片测试夹具卡。接收端测试包括如下测试内容：DQS Voltage Sensitivity，DQ Voltage Sensitivity，DQS Jitter Sensitivity，DQ Stressed Eye，CA Voltage Sensitivity，CA Stressed Eye，DQS2DQ，DFE Characterization等。

是德科技为DDR行业提供了最完整的解决方案，如下图：

图：是德科技DDR完整解决方案

更多咨询，敬请联系是德科技。

扫描二维码，领取资料