Saniffer公司针对SSD测试技术讲座的高清视频汇编

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Saniffer从2019年11月到2020年4月间组织了六次针对SSD测试相关的技术讲座，分别邀请了全球业内知名的技术专家依次讲述了并且演示了NAND测试，PCIe Gen 4 NVMe SSD性能、功能、协议兼容性、故障注入测试，SSD热插拔、电压拉偏和功耗测试，PCIe Gen 4和Gen 5协议分析和问题诊断，UFS 3.0/3.1协议分析，以及UNH IOLLabs针对NVMe 1.4 spec的兼容性测试的详细解读等主题。

Saniffer现在将上述六次讲座的内容汇总后重新上传，全部提供1080P高清视频，可以在手机端高清观看，有进一步兴趣了解更多内容的朋友可以联系下面图片中的邮箱，或者点击左下角“阅读原文”留言获取原始PPT文档或者高清视频，或者告知我们你们未来希望希望获得哪些方面的测试技术讲座，我们后续会继续联系国外专家尽量满足大家的需求。

插播：

Saniffer公司邀请了Prodigy公司UFS协议分析专家于2021/3/16日下午 3:30 - 4:30进行Prodigy UFS 4.0协议分析仪技术讲座，有需要参加的可以点击左下角“阅读原文”留言，我们会提前发送会议邀请连接。下面是技术讲座内容：

1. Overview of UFS2.1 and UFS 3.1

2. Debugging UFS Protocol host and device.

3. Discussion on Upcoming Features on UFS 4.0

4. UFS Protocol Analyzer features:  powerful trigger capabilities, segmented memory and continuous streaming

5. Live Demo

SSD测试技术讲座第一期：NAND特性分析技术分享 2019.11.16

意大利NplusT公司专家Tamas Kerekes 围绕针对SSD设计非常重要的NAND Flash的特性分析和测试进行的技术分享，包括如何测试NAND在不同温度下的误码率（BER）分布曲线，这对于从事ECC/LDPC算法优化的工程师比较有帮助。

 

主题如下：

为什么需要NAND特性分析

NAND特性分析的流程讲解

针对NAND特性分析的工具要求

测试产品相关技术

现场技术演示

Q&A问题答疑

SSD测试技术讲座第二期：PCIE GEN 3/4 NVME SSD测试技术分享 2019.11.23

本次Seminar主题是美国SanBlaze公司针对PCIe Gen 3/4 NVMe SSD的测试：

性能和延迟测试

数据一致性测试

600+个自动化定制脚本NVMe 测试脚本

oNVMe通用命令

oNVMe I/O测试

oNVMe Reset

oNVMe namespace管理

oNVMe 基本管理命令

oNVMe-MI 完整命令集测试

oNVMe dual port 测试

oNVMe 热插拔和链路测试

oNVMe Quarch信号毛刺注入测试

oNVMe其它指令测试，例如SR-IOV

oUNH IOL NVMe 1.4认证测试

oUNH IOL NVMe-MI 认证测试

oSSD Endurance JEDEC Spec长时间测试

电压/电流/功耗测试

完整Quarch热插拔集成

NVMe 1.4规范完整支持

SGL/PRP支持可变block size/metadata/Bit Buck

掉电测试，支持数据校验/Atomicity校验

针对VF的完整SR-IOV支持

支持VDM，SRIS/SNRS, ZNS, TCP等测试

针对NVMe SSD和盘柜的环境测试支持（-5C to 75C）

纯软件方案/基于定制的硬件环境

制动选择Single 或者Dual Port NVMe SSD

基于Web的GUI 管理

... ...

 

SSD测试技术讲座第三期：NVME SSD 热插拔和电压拉偏及功耗测试_2019.11.30

本次SSD测试技术分享为邀请全球SSD热插拔自动化测试以及电压拉偏和功耗测试领域排名#1的英国Quarch公司总部CTO, Andy Norrie进行技术分享。

 

本次技术分享将围绕PCIe/NVMe Gen3/4 SSD的热插拔测试和电压拉偏测试，该技术也可以应用于传统的SAS/SATA SSD的测试。

 

技术分享内容主题概略如下：

• 为什么针对热插拔和电压拉偏需要自动化测试

• 关于热插拔和电压拉偏测试人们需要了解什么

• 热插拔技术分享以及演示

• 电压拉偏技术分享

• Python脚本支持介绍

• 热插拔和电压拉偏视频演示

• Introduction to Hot-swap & fault injection testing

• Introduction to power analysis for storage devices

• Introduction to Quarch Compliance Suite

• FMS 2019_ Automated hot-swap & fault injection

• FMS 2019_ Automated power_performance testing

• Quarch Power Studio - Integration with Iometer

• Quarch Hotplug module and array controller demo

• Q&A

   

SSD测试技术讲座第四期：PCIE GEN4&5协议分析诊断测试技术分享_2019.12.7

本次PCIe Gen 4/5协议分析主题为SerialTek/Ellisys公司的革命性架构设计介绍以及live demo，SerialTek Gen 5 x16协议分析仪以及Gen 4协议分析仪获得国外如Intel, Broadcom, Micron, Microsoft, Phison, Kioxia，以及国内如Memblaze, YMTC, Dputech, Inspur等知名公司的应用，该设计彻底解决了传统Gen 4/5协议分析仪的固有弊端，在协议解码速度（1秒钟解码144GB buffer trace），Interposer信号高保真，无需抓取bootup过程（反复上下电不会解码错误），trace保存速度（保存144GB仅需要6分钟），随时断网，远程协助，四合一interposer设计（U.2/U.3/singe port/dual port）等方面获得业内用户的广泛认同，同时也提供了极高的性价比。

PCIe Gen 4/5协诊断和分析不仅适合从事NVMe SSD的firmware开发/测试(FW, FTE – Firmware Testing Engineering)部门学习，也适合于NVMe SSD架构设计(Architect)，产品验证(Product Validation Engineering, 或 Test Engineering)，应用工程（AE），技术支持（FAE – Field Application Engineer），失效分析（FAE – Failure Analysis Engineer）等部门。

 

同时，该技术讲座也适合用研发/测试各类通用PCIe Gen 4/5控制器和板卡类工程师学习，例如显卡，RAID卡，HBA卡，网卡（含有线以及M.2WIFI网卡），等等各种用途板卡。

 

  本次技术分享内容主题概略如下：

Gen4/5协议分析需要了解的几个痛点

Gen4/5协议分析认识的几个误区

Gen4/5协议分析仪购买的几个陷阱

Gen4/5协议分析仪产品介绍

Gen4/5协议分析Live Demo

o环境搭建

oGUI界面介绍

oTrace分析

Q&A答疑

SSD测试技术讲座第五期：UFS 3.0协议分析诊断测试技术分享_2019.12.21

本次UFS 3.0/3.1协议分析技术讲座邀请了Prodigy公司专家Godfree，通过PPT以及实际演示展示了其分析仪的强大功能，目前该分析仪已经应用于业内知名的公司如：Qualcomm, Samsung, Micron, Toshiba/Kioxia以及国内从事UFS Host和device的知名公司。

 

UFS 2.1存储已经广泛应用中高端手机里面，现在或明年一些新发布的手机将采用更快的UFS3.0存储。同时，UFS 存储从2017年起已经成为SATA SSD或者NVMeSSD的一个可选替代产品开始应用在一些笔记本电脑上面。所以，对于从事SSD的工程师也需要关注了解UFS3.0协议的发展状况。

 

本次UFS 3.0协议诊断和分析不仅适合从事UFS3.0的固件开发/测试学习，也适合UFS3.0架构设计，产品验证，应用工程（AE），技术支持，失效分析等部门工程师。

 

本次技术分享内容主题如下：

• MPHY，UniPro, UFS以及SCSI协议介绍

• UFS3.0和UFS2.0/2.1的区别，UFS3.1 Spec

• UFS3.0协议在移动市场的应用

• UFS3.0协议分析Live Demo

•  环境搭建

• GUI界面介绍

• Trace分析

SSD测试技术讲座第六期：UNH IOL NVME 1.4 CTS测试分享_2020.4.11

本次技术讲座分成两个部分，总计2.5小时，其中前面1小时15分钟我们邀请了UNH IOL实验室主任David Woolf讲述一下关于最新的UNH IOL 针对NVMe 1.4 spec的兼容性测试认证，后面的1小时15分钟我们邀请了SanBlaze工程师演示了SanBlaze系统测试PCIe Gen 4 NVMe SSD的强大功能，SanBlaze提供的600+以上的NVMe全面测试用例，以及紧跟UNH IOL最新的NVMe 1.4 spec推出最新的兼容性测试用例。

9:00 – 10:15 UNH IOL, David Woolf

 

关于UNH-IOL (3 min)

      自我介绍

      UNH IOL是谁？

 

关于NVMe兼容性测试项目 (5 min)

      兼容性测试的目的和要求

      UNH-IOL和NVMe Org官方组织如何合作

      什么是Integrators List

      如何认证产品并加入Integrators List

     

NVMe Spec规范(10 min)

      NVMe 1.4和1.3的区别

 

NVMe SSD测试概述 (15 min)

      NVMe兼容性测试涉及范围，需要测试哪些项目？

      NVMe互操作性测试，如何测试？

      NVMe-MI

 

NVMe-oF 测试概述(10 min)

      NVMe-oF涉及哪些底层传输技术？

      NVMe-oF兼容性测试涉及范围，需要测试哪些项目？ 

      NVMe-oF 互操作性测试

 

UNH-IOL NVMe Test Tools (20 min)

      测试内容以及工具使用

      IOL INTERACT™ NVMe Testing Software ver 12.0 --> 13.0增加哪些条目

      视频演示

      Demo license试用  //*发给参会者

 

Working with UNH-IOL (10 min)

      远程私有测试安排

      Plugfests

      会员费用，临时会员费用以及相关策略

 

重点回顾和答疑

 

10:15 – 11:30 SanBlaze, Stephen Hynes

 

NVMe以及SBexpress/SANalze Certified概述 (10 min)

 

UNH IOL Conformance Test演示 (35 min):

      SBExpress 测试脚本/UNH IOL测试

      脚本装载，执行，结果以及报告分析

      NVMe其它测试功能概述

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