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Part 01
前言
MOSFET关断时,漏源电压Vds和电流ID不是瞬间变成0的,会有个过渡过程。这段时间里,电压和电流同时存在,功率Vds × ID就变成了损耗。交叉损耗直接影响MOSFET的发热,尤其在高频开关电路(比如Buck转换器)中,频率高了,损耗累积起来就不小,散热得跟上。
Part 02
交叉损耗计算
Vin:输入电压
Io:负载电流
tcrossturnoff:关断时的交叉时间(也就是电压电流重叠时间)
fsw:开关频率
那么我们需要先计算出关断交叉时间tcrossturnoff:
T2:米勒平台阶段,Vds从低电压上升到高电压的时间。
T3:栅极电压从米勒平台下降到阈值电压VT的时间。
计算T2:米勒平台时间
Vin:输入电压,假定是15V
Cgd:栅漏电容,假定是0.75pF
Rdrive:驱动电阻,假定是1Ω
VT:阈值电压,假定是1.05V
Io:负载电流,假定是22A
g:MOSFET跨导,假定是100S
代入公式:
T2是米勒平台阶段,栅极电压被"卡住",因为栅漏电容 Cgd 在放电,VDs 快速上升到输入电压,电流ID开始下降。这段时间是关断损耗的主要部分。
计算T3:栅极放电时间
Tg:栅极放电时间常数:
其中Cg是栅极电容,假定是300pF。
代入公式:
T3是栅极电压从米勒平台下降到阈值电压的时间,MOSFET电流ID已经降到0,Vds保持高电压。
总交叉时间tcrossturnoff:
总关断交叉损耗Pcrossturnoff:
代入公式:
0.83W是关断时的交叉损耗,500kHz频率下,每次关断都会产生微小损耗,累积起来就是这个数。
总交叉损耗Pcross:
Pcrossturnon:导通交叉损耗,0.64 W (上一篇文章的计算结果)
Pcrossturnoff:关断交叉损耗,0.83 W
总交叉损耗1.47W是MOSFET在开关过程中(导通+关断)的损耗,加上导通损耗(I × I × RDS(on)),就可以结合热阻来评估总发热对应的温升了。
Part 03
总结
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