分析解决M.2 NVMe SSD低功耗问题的利器

SSDFans 2021-02-06 00:00


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随着众多的消费类M.2 NVMe SSD应用于各种各样的场景,例如笔记本,GPS,汽车电子等,研发/测试工程师发现诊断、分析、排除关于低功耗的问题,传统的手段,例如使用万用比或者示波器等捕获波形等越来越难以应付出现的问题。


很多工程师都在使用Quarch公司的PPM (Programmable Power Module)对于SSD进行电源拉偏和电压、电流和功耗的实时以及回溯分析,其原理是通过相应接口的夹具隔离主板或者背板对SSD供电,转而由PPM供电从而实现电压拉偏和测量。但是,有的时候我们还是需要由笔记本主板供电,让SSD进入低功耗模式,这个时候怎么办呢?


Quarch新发布的PAM (Power Analysis Module) 使得用户分析这些低功耗问题变得易如反掌,Quarch Gen 4 M.2 NVMe SSD PAM模块串接在M.2 SSD和M.2 socket之间,可以长时间、高精度地记录电压,电流,功耗,以及各个sideband signal,例如PERST#, SMDAT, SMCLK, CLKREQ#, WAKE#等,这样,当笔记本进入低功耗的时候,通过PAM的管理软件QPS (Quarch Power Studio)可以实时地、清晰地获得所有你想获得的信号信息,也可以事后回溯分析,同时抓取的数据也可以生成CSV等表格用于后处理分析。


除了M.2 PAM之外,Quarch也提供针对Gen 4 U.2/U.3 SSD的PAM, 可以满足分析2.5’ Gen 4 NVMe SSD的电压,电流和功耗等,同时,Quarch也提供针对AIC插卡的PAM, 允许工程师分析各种PCIe插卡,包括PCIe Gen 4 x8 NVMe SSD卡,或者任意其它的网卡,显卡,GPU卡,HBA卡,RAID卡的电压,电流和功耗信息。


下面的视频以插卡为例,演示了PAM的工作原理。





视频一:Quarch PAM_Power Analsys Module Introduction


视频二:Quarch Power Studio - Integration with Iometer


感兴趣的朋友可以访问下面的连接下载Saniffer汇总的针对PCIe Gen 4 SSD测试的各种常用工具手册,涉及PCIe Gen 4协议分析,性能/功能/协议兼容性/IOT测试,热插拔自动化测试,掉电测试,电压拉偏,功耗测试,电压被动测量,高低温测试,以及如何构建PCIe Gen 4 NVMe SSD测试环境,从Gen 4主板选型开始,涉及PCIe Gen 4 NVMe SSD三类接口(M.2, U.2, AIC)的端口扩展,各种常用的主机卡,转接卡,盘柜,延长线的选择等,以及考虑到测试便利性使用的主板托架和实验室批量测试机架等解决方案:


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关于Saniffer公司                


Saniffer公司位于上海张江高科技园区,是国内唯一专注于存储测试工具领域的综合服务提供商,涉及测试工具覆盖了存储生态的各个环节,从芯片开发,底层固件和驱动开发/验证,测试工程,应用工程,RDT可靠性测试,一直到生产测试。测试的产品涉及存储控制器IP,芯片,HDD/SSD,存储系统,服务器,网络设备研发,设计,生产和制造。


Saniffer提供的测试方案包括并不限于下面相关技术:

  • 计算/网络/存储相关总线技术


    • PCIe/NVMe Ge 4/5

    • SAS 12/24G / SATA 6G

    • NAND 400MT/800MT/1.6GT

    • LPDDR/DDR 4/5

    • FC 32G

    • FCoE

    • iSCSI

    • NVMoF (NVMe over Fabric)

    • FC-NVMe (NVMe over FC)


  • 消费类/移动/汽车电子相关总线技术

    • eMMC 5.1

    • UFS 3.0/3.1

    • CAN

    • LIN

    • FlexRay

    • USB 3.0/3.1/4.0

    • Display Port 2.0

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