本次研讨会将对高频/高速PCB板关键参数测试进行详细介绍:
PCB单端及差分走线的插入损耗、回波损耗等基本S参数的测试;
时域阻抗TDR以及信号完整性相关的各种指标测试(如FEXT、NEXT、PS_Crosstalk、ICR、ICN、Jitter、差分对延时 、眼图等)。
PCB板材料的介电特性,如介电常数(D k)/介质损耗(D f)等材料参数的测试进行相关的介绍。
更重要的是,活动还有PCB现场实测环节,眼见为实,直观带您学习PCB关键参数测试!
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于洋
是德科技高级应用工程师
本科及研究生毕业于电子科技大学电磁场与微波技术专业,曾长期从事射频微波系统及半导体相关的研发工作,并著有发明专利一项及多篇学术交流文章。于2014年加入是德科技,担任技术与支持部应用工程师,主要从事射频微波类产品、阻抗分析及半导体参数分析类产品的技术支持工作,对元器件/半导体器件等相关参数测试有着丰富经验。
王欣
是德科技行业市场经理
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