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最近，在软件中仿真运放，想着，最好能把运放的那些指标，都验证仿真一下，所以就有了这篇学习笔记。
(1)什么是输入失调电压？
输入失调电压，英文为input offset voltage，经常看到的表示是Vos。
理想情况下，当运放的两个输入端电压相同时，输出应该为0；但实际情况下，输出不是0。如下图所示。
这个时候，为了让运放的输出电压为0，则需要在运放的一个输入端施加一个或正或负的电压Vos，这个Vos即称为失调电压，如下图所示。
(2) 输入失调电压来自哪里？
输入失调电压主要来自于输入差分对之间的不匹配。
在实际情况下，即使电路结构完全对称，管子的参数设置完全一样，由于芯片制造和封装时的随机失配，最终出来的管子都是不相同的。
就和板级PCB的加工一样，虽然我们把线宽设置成一个值，并告知进行阻抗控制的情况下，加工出来也还是有误差来着。
在ADI的文档中[2]，有提到他们采用的那些调整失调电压的各种方法，所以，一扣指标，难度直线上升。
(3) 为啥需要考虑失调电压？
我觉得razavi的微电子基础中的那些例子，能说明一些问题。
这里，会造成测量误差。
这里会造成输出饱和。
(4) Vos在器件手册上一般是怎么表示的？
比如下图中OPA827器件手册中的Vos，其典型值是75uV，最大值为150uV。
大概的意思是，在所测的大量OPA827运放中，如果|Vos|>150uV，那就算没有通过；然后68%的OPA827运放的Vos位于-75uV和75uV之间。
(5) drift
Vos定义下面，还有一个Vos drift，其定义有两种。
一种为如下图所示，从图中可以看到Vos与温度可能成正比也可能成反比，所以drift可正可负。
另一种定义如下图所示，只有正值。
Drift在校正系统中非常重要，在校正系统中，会经常测量环境温度，从而在软件中进行校正。但是想要校正好温度漂移，会比较困难，所以最好还是器件本身的Vos足够小。
(6) 仿真？？
还没有做。
(7)参考文献
[1] https://www.ti.com/content/dam/videos/external-videos/en-us/1/3816841626001/4082104055001.mp4/subassets/opamps-offset-voltage-input-bias-specifications-presentation-quiz.pdf
[2]https://www.analog.com/media/cn/training-seminars/tutorials/mt-037_cn.pdf
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