NI测试测量技术研讨会全国巡回盛大开启！深圳、北京、西安、武汉以及更多城市敬请期待。
首站深圳定档12月12日，研讨会将分为LabVIEW及测试测量技术和半导体及消费电子两个分论坛，围绕最新LabVIEW开发技巧，测试测量技术，半导体和消费电子应用方案展开。
现场更有LabVIEW首席专家面对面交流，8场技术演讲和9个实机展示以及幸运好礼，现场参会名额有限，欢迎报名参加。
12月12日，13:30-17:10（12点开始签到）
深圳威尼斯英迪格酒店- 一层，威尼斯宴会厅
（地址：深圳市南山区华侨城深南大道9026号）
本技术会议将汇总介绍近年来LabVIEW的新特性，尤其是在提升测试开发效率上的新功能，从而使开发人员以最新的编程技术高效应对测试测量软件开发的挑战。同时将分享在LabVIEW使用过程中的部分内外部工具以及技能，帮助您的代码开发更规范更高效。
可通信状态机（CSM）是一个基于JKI状态机（JKISM）的全新开源的LabVIEW程序框架。它遵循 JKISM 的文本队列模式，扩展了关键词以描述模块之间的消息通信，包括同步消息、异步消息、状态订阅/取消订阅等概念。在本次演讲中，将通过CSM基础介绍、与DQMH/Actor Framework的比较、CSM复杂场景的案例分享，展示CSM 简洁、易测试、易拓展的优势。https://github.com/NEVSTOP-LAB/Communicable-State-Machine
随着相控阵技术在雷达、通信系统中越来越广泛的使用，作为相控阵系统核心单元的TR组件，因其制造工艺的复杂性，测量项目的广泛性，对测试系统测试功能的广度和测量速度等方面都带了前所未有的挑战。尤其随着数字TR组件的出现，高速的数字通信对于测试系统的数字化能力提出更高的要求。基于NI的软硬件产品，我们可以快速搭建针对TR模组的自动化测试系统，帮助客户解决研发设计、生产制造的过程中遇到的这些新趋势所带来的新挑战
随着B5G/6G，低空智联，卫星互联网等行业的方兴未艾，射频测试与无线原型验证系统的需求也在快速变化，如何应对日益复杂的射频系统的测试与验证成为了行业的共性挑战。NI利用其先进的测试仪器和平台化的软件定义能力，与工业届和院校科研开展广泛的合作，本次演讲将基于NI第三代高性能的矢量信号收发机（VST）和软件定义无线电平台（USRP）的新产品进行展开，介绍新一代高性能的射频测试与原型验证方案，分享其应用演示和案例。
多通道电源管理芯片因其通道数多电路复杂，使得验证工作也面临诸多挑战。NI推出了基于标准的软件开发框架，可让用户将复杂的测试项目化整为零，快速开发出可复用的测试IP。复用IP支持多种开发语言，利用通用InstrumentStudio软面板快速进行验证测试，测试IP可快速导入自动化测试软件TestStand，并支持自动化测试过程中实时监测测试数据，大大提高了整体的验证效率。并且NI还提供了大量的PMIC测试IP的源代码供用户下载参考，极大的缩短了用户开发验证程序的时间，让用户更专注于验证本身。
本次演讲将介绍NI从射频研究到量产应用的最新测试方案，以应对高频、高带宽、高阶调制等带来的挑战。内容涵盖两款新型矢量信号收发仪PXIe-5842和PXIe-5860，凭借卓越的射频性能，结合强大的应用软件，能够准确生成和测量宽带调制信号，非常适合于各种最新无线通信标准产品的性能验证，包含Wi-Fi 7, UWB等。无论是实验室验证还是产线测试，NI均可提供成套解决方案，协助您克服各种测试挑战。
分享手机芯片功耗测试的实际案例，针对半导体的功耗测试解决方案的演讲内容包括测试会遇到的挑战，如何选择正确的测量仪器，实际应用测试范例，以及功耗性能测试需要的硬件示例配置。
AI、LLM和ML正在推动高性能计算蓬勃发展，数据高速传输是高性能计算的基础，光电子则为高速数据传输提供了解决方案。光电子技术在高速演进的阶段，遇到了多通道高密度传输、异质集成等问题，也让测试变得更加复杂具有挑战；NI基于PXI平台的解决方案，集成了电学和光学仪器，为光电混合信号的测试和测量提供了优质高效的平台。
▷LabVIEW专家交流区
LabVIEW 新特性
开源LabVIEW编程框架 - 可通讯状态机框架https://github.com/NEVSTOP-LAB/Communicable-State-Machine
▷产品展区
NI mioDAQ 多功能I/O数据采集产品
基于PXIe-5764的高速触发采样演示系统
基于 NI X410的无线实时5G神经网络接收机验证平台
▷半导体及消费电子应用展区
使用 NI VST3 射频仪器助力无线通信测试
基于NI VST的WLAN测试方案
快充算法验证测试系统
多通道PMIC自动化验证方案
光电应用测试系统
*以现场实际展示为准
欢迎报名，
智能手表等您拿！
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