本文以RA6 MCU为例，介绍如何使用自诊断软件对MCU进行自检。
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使用的环境
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自检软件介绍
瑞萨提供了针对RA系列MCU的诊断软件，涵盖了对MCU的CPU core，ROM，RAM的永久性故障诊断，CPU的斩断覆盖率达90%，RAM的诊断覆盖率达90%，ROM的诊断覆盖率达99%，满足SIL3的认证要求。本文档使用的自检软件包RTK0EF0090F60001SJ_Ver.1.01适用于cortex M4架构的RA6系列MCU。
2.1
CPU诊断软件
CPU诊断软件通过采用主要基于指令的诊断方法来验证 CPU的正确功能，从而检测CPU内核的永久性硬件故障。针对处理器内核，有20项的测试内容。
2.2
CPU诊断软件API
void coreTest（uint8_t steps， const uint8_t forceFail， uint32_t *result），通过设置参数forceFail，可以实现故障注入从而返回错误。
2.3
RAM诊断软件
RAM诊断软件是检测MCU RAM内存，将要检测的内存大小MUTSize分成numberOfBUT块，那么每块内存大小就是MUTSize/numberOfBUT.调用RAM诊断API对每块内存进行检测，返回两个结果resultTestRam1和resultTestRam2，如果都为1，则表示检测通过，否则检测失败。
2.4
RAM诊断软件API
void testRAM（unsigned int index， unsigned int selectAlgorithm， unsigned int destructive），参数 selectAlgorithm是设置RAM自检算法，支持Extended March C-和WALPAT两种算法，参数destructive是设置RAM自检模式，0表示非破坏性模式，需要使用新buffer保存被检RAM区的数据做备份，1表示po破坏性检测，该模式会模式会清楚RAM区数据初始化为0。
2.5
ROM诊断软件
RAM诊断软件是检测MCU ROM，通过选定ROM起始地址和终止地址来确认检测的内存块范围，调用ROM诊断软件API对ROM内存块进行相应CRC计算，返回值与参考checksum（由IAR链接器预先计算产生）进行比较，如果不一致，则表示有错误。
2.5
ROM诊断软件
RAM诊断软件是检测MCU ROM，通过选定ROM起始地址和终止地址来确认检测的内存块范围，调用ROM诊断软件API对ROM内存块进行相应CRC计算，返回值与参考checksum（由IAR链接器预先计算产生）进行比较，如果不一致，则表示有错误。
2.6
ROM诊断软件API
void crcHwSetup(unsigned int crc)
uint16_t crcComputation(unsigned int checksumBegin，unsigned int checksumEnd，unsigned int incrMode)
以上是诊断软件的介绍，详细的细节可以查阅诊断软件的用户手册。
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RA6开发板测试
3.1 使用RASC创建基于IAR的FSP工程，点击Generate Project Content生成代码。
3.2 打开新创建的IAR工程，从RTK0EF0090F60001SJ_Ver.1.01代码包中，拷贝自检代码添加到工程中src目录下。
3.3
工程设置
C/C++ Compiler->Preprocessor添加对应文件路径
Assembler->Preprocessor添加对应文件路径
3.4
应用功能实现
编辑hal_entry.c文件，实现对CPU，RAM，ROM每隔0.5秒的循环检测，同时EK-RA6M4按下S1按钮，故障输入，从而实现CPU错误检测，红色led灯闪烁，参考ek_ra6m4_selftest样例程序。
1.主函数入口代码：void hal_entry(void){/* TODO: add your own code here */uint32_t ver;uint8_t cnt = 0;ver = R_CPU_Diag_GetVersion();// printf("CPU diag software version = %d.%02d\n",ver >>16u,ver & 0xFFFF);ver = R_RAM_Diag_GetVersion();// printf("RAM diag software version = %d.%02d\n",ver >>16u,ver & 0xFFFF);ver = R_ROM_Diag_GetVersion();// printf("ROM diag software version = %d.%02d\n",ver >>16u,ver & 0xFFFF);/* Setup Registers */setup_diag();/* Holds level to set for pins */bsp_io_level_t pin_level = BSP_IO_LEVEL_LOW;while(1){int32_t result = 0;cnt = cnt % 3;/* Blue LED blinks */led_change(0, pin_level);/* Diagnostic */switch (cnt){case 0:result = cpu_test_sample();break;case 1:result = ram_test_sample();break;case 2:result = rom_test_sample();break;}cnt++;if (0 == result){/* Red LED lights off */led_change(2, BSP_IO_LEVEL_LOW);}else{/* Red LED lights up */led_change(2, BSP_IO_LEVEL_HIGH);}/* Toggle level for next write */if (BSP_IO_LEVEL_LOW == pin_level){pin_level = BSP_IO_LEVEL_HIGH;}else{pin_level = BSP_IO_LEVEL_LOW;}/* Delay (500ms) */R_BSP_SoftwareDelay(500, BSP_DELAY_UNITS_MILLISECONDS);}/* Enter non-secure code */R_BSP_NonSecureEnter();}2. cpu_test_sample()函数实现了CPU TEST代码：/************************************************************************************************************************ CPU TEST**********************************************************************************************************************/int32_t cpu_test_sample(void){uint32_t forceFail = 1; /* Force fail:Disable */int32_t result;uint32_t index;/* Check SW 'S1' */if (R_PFS->PORT[0].PIN[5].PmnPFS_b.PIDR == 0){forceFail = 0;asm("NOP");}else{asm("NOP");}for (index = 0; index <= CPU_DIAG_MAX_INDEX; index++){result = 0;R_CPU_Diag(index, forceFail, &result);if (result != 1) {return -1;}}return 0;}3. ram_test_sample()函数实现了RAM TEST代码：/************************************************************************************************************************ RAM TEST**********************************************************************************************************************/int32_t ram_test_sample(void){uint32_t area = 0;uint32_t index;uint32_t algorithm = RAM_ALG_MARCHC;uint32_t destructive;for (index = 0; index < numberOfBUT0; index++) {if (index == 0) { /* Buffer block */destructive = RAM_MEM_DT;} else {destructive = RAM_MEM_NDT;}/* Call API */R_RAM_Diag(area, index, algorithm, destructive);/* Check API result */if ( (RramResult1 != 1) || (RramResult2 != 1) ) {return -1;}}return 0;}4.rom_test_sample()函数实现了ROM TEST代码：/************************************************************************************************************************ ROM TEST**********************************************************************************************************************//* Area where the expected CRC checksum values of each ROM block are aggregated. */__root const uint16_t expChecksum[NUM_OB_ROM_BLOCK] @ CHECKSUM_BLOCK_ADDRESS;int32_t rom_test_sample(void){uint32_t start;uint32_t end;uint32_t mode;uint16_t calChecksum;/* ROM Test: Block0 (4KB) */start = 0x00001000;end = 0x00001FFF;mode = 0;calChecksum = R_ROM_Diag(start, end, mode);if (calChecksum != expChecksum[0]) {return -1;}/* ROM Test: Block1 (4KB, 4time-wise split) *//* Block1, Group1 (1KB) */start = 0x00002000;end = 0x000023FF;mode = 0;calChecksum = R_ROM_Diag(start, end, mode);/* Block1, Group2 (1KB) */start = 0x00002400;end = 0x000027FF;mode = 1;calChecksum = R_ROM_Diag(start, end, mode);/* Block1, Group3 (1KB) */start = 0x00002800;end = 0x00002BFF;calChecksum = R_ROM_Diag(start, end, mode);/* Block1, Group4 (1KB) */start = 0x00002C00;end = 0x00002FFF;calChecksum = R_ROM_Diag(start, end, mode);if (calChecksum != expChecksum[1]) {return -1;}return 0;}
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https://community-ja.renesas.com/zh/forums-groups/mcu-mpu/
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