第1种:是你的DUT自带同轴连接器,这样矢网校准完了可以直接接上测,测出来的数据就是你DUT的性能,这种最简单方便,而且测量误差最小;
第2种:是把矢网接到夹具上,夹具再插到你的DUT里,测出来的数据再用软件把夹具的效应移除掉,或者用仪器自带的De-embeding功能去掉,这种操作起来也简单,但要有配套的夹具,以及相关的软件;
但有的板子是既不自带同轴连接器也没法接夹具,怎么办?你说在板子上焊一根同轴线缆,这样不就可以接上矢网了吗?这种方法我内心是拒绝的,因为测量误差大,但咱是以理服人的,来~道具。
这是一块设计成上同轴连接器的板子,我们来对比一下:上连接器和焊cable。
两者的测试结果差异。先上连接器测,
这是上连接器测出来的结果,我们保存一下;我们把马上要焊接的两根cable的S参数都测一下,因为它是open状态的,保存成s1p格式;
现在我们去把cable焊上;焊好了,我们再来测一下,接下来用ISD软件将其中cable的损耗移除掉,我们把两种测试结果放到一张图里来看,红色线是上连接器测出来的结果,蓝色线是焊cable出来的结果,绿色线是在蓝色线的基础上用软件将cable的损耗移除掉的结果,如果焊cable这种方式靠谱的话,那绿色线和红色线应该是重合的,但结果差异是比较大的。
既然焊cable的方式不太靠谱,那不自带同轴连接器也没法接夹具的板子想测损耗怎么办?下面就是第3种方法了,用探针点测。不是这种我们用来测阻抗的手持探针,这种我们其实不叫它探针,而是叫它TDR探棒,听名字就知道它设计出来是用来阻抗的,因为它只有两根信号针,没有地针,所以它点到PCB上launcher位置的阻抗会突变的比较高,而且随着DUT 的pitch越大,launcher位置的阻抗就越高,所以说是不适合用来测S参数的。
接下来要讲的探针是配合探针台去使用的,也就是我旁边这个铁台子,因为高速探针都是很精细的,也是比较脆弱的,需要显微镜配合点到PCB上,不能再手持着就咔咔往上怼了。下一期我们就来给大家演示一下怎么操作探针台去测试光板的S参数。
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