【今日分享】探索未来科技之光——菲莱硅光老化技术与碳化硅设备的革新之旅

原创今日光电 2024-10-26 18:01 532浏览 0评论 0点赞

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今日光电

有人说，20世纪是电的世纪，21世纪是光的世纪；知光解电，再小的个体都可以被赋能。追光逐电，光赢未来...欢迎来到今日光电！

----追光逐电光赢未来----

菲莱科技在硅光科技领域持续深耕，锐意进取，不断突破技术壁垒。近年来，我们成功研发了高性能硅光老化系统，该系统凭借卓越的性能与稳定性，赢得了市场的广泛认可，并顺利完成了多笔重要订单，奠定了坚实的市场基础。展望未来，我们即将推出创新的碳化硅系统，进一步丰富产品线，引领行业新风尚。我们坚信，通过不懈努力与创新，将不断开创硅光及碳化硅领域的新篇章。

硅光老化系统

●硅光老化系统

本产品融合前沿科技，以独立温控技术为核心，确保温度稳定精准，为产品老化测试树立新标杆。每个老化单元独立运行，提升效率与灵活性，满足多样化测试需求。配备高精度稳定电流源，保障测试数据准确无误。集成卓越的EOS与ESD保护机制，全方位守护产品安全，实现零风险测试环境。采用成熟精密设计，一次压接成功率高达100%，展现卓越品质。支持MES系统管控，数据在线离线自由访问，便捷高效。更具备断电续接、暂停继续等人性化功能，以及多重保护机制应对突发状况。基于超百台大规模量产验证，本平台定制化开发能力强，是值得信赖的行业首选。

硅光芯片测试耦合系统

本硅光芯片测试耦合系统，集成了尖端的多通道FAU耦合技术，兼容直波导、斜波导等多种形态，实现进出光同步精准耦合。系统支持8PCS VR盒全自动上下料，并具备智能分BIN功能，显著提升测试效率与生产能力。其高精度耦合模块，重复定位精度小于50nm，确保每一次测试都准确无误。采用TEC+水冷温控系统，保证测试环境快速稳定。配置灵活，可根据客户需求调整，并完美对接MES系统，实现数据无缝上传与导入，全程追溯，为硅光芯片的研发与生产提供全面、高效、精准的支持。

该硅光芯片测试及老化系统具有广泛的应用领域，主要体现在以下几个方面：

1. 光通信领域

2. 人工智能与机器学习

3. 生物传感与医疗检测

4. 自动驾驶与激光雷达

5. 科研与教育

综上所述，该硅光芯片测试及老化系统凭借其高精度、高效率、高可靠性的特点，在光通信、人工智能、生物传感、自动驾驶等多个领域具有广泛的应用前景。

碳化硅系列产品

●碳化硅老化系统

该晶圆老化系统集高效能与灵活性于一身，配备6个独立老化单元，专为SiC与GaN晶圆产品定制。每单元兼容6至8寸晶圆，能同时处理高达768个芯片的HTGB与HTRB老化测试，灵活切换GB与RB模式。系统支持多维度参数测试，确保数据精准。独立运行的单元设计，提升测试效率与灵活性。高精度漏电流测试能力，低至0.1nA分辨率，保障测试质量。控温精准，氮气保护，硬件软件双重限流，确保测试过程安全可靠。系统无缝对接MES，实现数据追溯与管理，支持在线Recipe编辑，优化操作流程。

●碳化硅芯片级测试

Handler与测试机分离设计，灵活配置，扩展无忧。支持多样化上下料方式，满足各类晶圆需求。双/四工站独立配置，测试条件自由设定。2000V/2000A高规格测试能力，温控精准。专业探针设计，稳定高效。氮气保护与数据分Bin，提升测试品质。支持数据本地存储与MES对接，Recipe在线编辑便捷。软件管理安全高效，助力高效测试流程。

我们深知，在瞬息万变的市场环境中，唯有不断创新与精进，方能引领潮流，满足并超越客户的期待。

菲莱的未来之路，将是一条不断挑战自我、超越极限的征途。我们诚邀每一位客户与我们携手同行，共同见证并参与这一场关于完美与卓越的非凡旅程。

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