碳化硅(SiC)功率器件在高频和高温应用中具有显著优势。目前,铝线键合互连结合直接键合铜基板仍然是SiC功率器件的主流封装结构。然而,由于寄生参数高和热性能差,它无法充分发挥潜在的性能。更高的开关频率使得SiC功率器件对寄生参数更加敏感,以至于过电压、寄生振荡和电磁干扰比硅功率器件更为严重。此外,如果没有足够的散热性能,SiC器件的高温特性也无法在传统封装中充分发挥。可以看出,开发具有低寄生电感和高效散热的新解决方案已成为SiC功率器件大规模应用的必然选择。
随着先进基板技术的快速发展,嵌入式封装技术应运而生。功率芯片可以嵌入到基板中,并通过再分布层(RDL)、通孔、引线等与外部电路互连。相应地,嵌入式封装中的电气互连长度和热传导距离可以缩短。因此,嵌入式封装的寄生电感和热阻相对较低。2013年,Ostmann等人提出了一种基于引线框架的PCB嵌入式IGBT半桥模块,但未详细讨论电气分析。在此基础上,有认提出了基于铜引线框架的功率模块,预制腔体以提高电镀质量,但模块的裸芯片动态行为比较是不同的。此外,Polezhaev等人提出了一种更容易制造基于PCB的功率器件的新概念,其中裸芯片被夹在两个电路板之间,使用银烧结和预浸料的同时层压。
然而,热阻高于1 K/W,且没有优化杂散电感。因此,很明显嵌入式封装的发展主要体现在工艺实施上,而寄生参数和热特性的关键技术指标,这些对SiC功率器件特别重要的指标,尚未得到足够的关注和妥善处理。
在本文中,提出了一种具有低寄生电感和低热阻的嵌入式SiC半桥功率模块。在第二节中,进行了封装设计、寄生电感提取和热阻网络分析。在第三节中,通过实验比较了所提出的嵌入式封装和传统TO-247封装的开关特性以及热阻。最后,第四节对本文进行了总结。
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