一、前言
前面使用 ADALM2000 测量音叉晶体谐振特性的时候，一直没有得到想要的结果。下面通过对 晶体增加缓冲放大，来测量 晶体的谐振频率，另外，也分析一下，为何 ADALM2000 模块测量晶体频率特性的时候，为何无法得到测量的结果的问题。
设计信号高速缓冲放大电路。在晶体上的电压，通过有 LM358进行跟随放大，输出到端口。这部分是产生 二分之一电源电压，用于信号源的偏置。设计单面电路板，适合一分钟制版方法。
▲ 图1.2.1 测试PCB电路板一分钟之后，得到了测试电路板。电路板制作的非常完美。下面进行焊接测试。
焊接电路，清洗之后进行调试，给电路施加 5V 工作电源，使用示波器测量输入输出信号。上面是输入信号，下面是谐振后的音叉晶体放大后的信号。
▲ 图1.3.1 输入和放大后的信号通过网络编程，控制DG1062输出正弦频率线性变化，峰峰值为 2V，利用 DM3068交流档，测量缓冲放大输出信号有效值。这是扫频范围从 32750Hz 到32780Hz，扩大扫频范围，在串联谐振时，对应的频率为 32760Hz，并联谐振时，对应的频率为 32775Hz。
▲ 图1.3.2 从32750 扫频到32780 对应的幅度
▲ 图1.3.3 扫描频率范围(32700,32900)的幅频特性
由于万用表测量只能反应谐振的幅频特性。无法得到对应的相频特性。下面利用ADALM2000 重新测量这个电路的频率特性。它可以同时获得幅频特性和相频特性。测量 32768 左右正负100Hz范围内的频率特性。测量结果依然令人感到惊讶，还是没有得到与 DG1062 扫频搜得到的频率特性。这究竟是为什么呢？
后来，对于ADALM2000 频率扫频参数进行设置，这里的采样周期 以及数据平均值参数，便可以得到稳定的测量值了。这里是将周期数和平均数都分别设置为 100 和 50，可以获得比较精确的晶体谐振曲线了。上面是幅频特性，下面是相频特性。
▲ 图1.4.1 读取的测量数据到现在为止，我才明白，这里的两个参数的含义，Period 是数据采集的时间长度，这个数值越大，因为数据加窗所带来的频率泄露现象越小，对应的频率分辨率越高。Average 对应数据平均个数，该数值越大，对应 数据噪声越低。这里给出了两组参数测量结果的对比。可以看到 P=100 所得到的频率特性比 P=10 要窄，信噪比也高一些。再对比一下另外一组采集参数的结果。
▲ 图1.4.2 不同Period 和Average对应的测量数据对比一下 Period=2时，信号的长度，Period=20 对应的信号长度。Period=100时对应的信号长度。信号长度增加，包括 平均数据增加，虽然可以有效增加扫描频谱特性的分辨率和信噪比，但也使得测量过程变得比较缓慢。
▲ 图1.4.3 Period=2对应的数据波形
▲ 图1.4.4 Period=20对于的数据波形
▲ 图1.4.5 Period=100对于的数据波形本文最终测试了手表晶体特性，通过对晶体信号增加缓冲放大，可以测到音叉晶体的谐振特性。对于ADALM2000，需要设置合理的 Period 以及 Average 参数，从而可以获得最好的频率分辨率以及提高测量结果的信噪比。
利用DG1062信号元测量手表晶体的谐振特性: https://zhuoqing.blog.csdn.net/article/details/141257027
[2]带有74HC04缓冲测量手表晶体的谐振特性: https://zhuoqing.blog.csdn.net/article/details/141231549
[3]测量 手表晶体的频率特性: https://zhuoqing.blog.csdn.net/article/details/141230000
