该解决方案可识别如导线下垂、近短路和杂散导线等细微缺陷,全面评估金线键合的完整性
先进的电容测试方法能实现卓越的缺陷检测
该测试平台准备好应对大批量生产,可同时测试20个集成电路,每小时产量高达72,000单位
是德科技(Keysight Technologies,Inc.)推出电气结构测试仪(EST),这是一款用于半导体制造的键合线 (Wire Bonding) 检测解决方案,确保电子组件的完整性和可靠性。
先进的缺陷检测:通过分析电容耦合模式的变化,识别各种电气和非电气键合线 (Wire Bonding) 缺陷,确保电子组件的功能和可靠性。
大批量生产准备:通过同时测试多达20个集成电路,每小时产量高达72,000单位,在大批量生产环境中提升生产力和效率。
大数据分析集成:通过临界不良重测 (Marginal Retry Test/MaRT)、动态零件平均测试 (Dynamic Part Averaging Test/ DPAT) 和实时零件平均测试 (Real-time Part Averaging Test/RPAT) 等先进算法捕捉缺陷并提高产量。
电气结构测试仪将于2024年9月4日至6日在SEMICON Taiwan 2024半导体展,台北南港展览馆 1 馆的Keysight摊位(#K3283)上展出。