DDR应用现状
随着近十年以来智能手机、智能电视、AI技术的风起云涌，人们对容量更高、速度更快、能耗更低、物理尺寸更小的嵌入式和计算机存储器的需求不断提高，DDR SDRAM也不断地响应市场的需求和技术的升级推陈出新。
目前，用于主存的DDR SDRAM系列的芯片已经演进到了DDR5了，但市场上对经典的DDR3 SDRAM的需求仍然比较旺盛。
测试痛点
测试和验证电子设备中的DDR内存，客户一般面临三大难题：
如何连接DDR内存管脚；
如何探测和验证突发的读写脉冲信号；
配置测试系统完成DDR内存一致性测试。
泰克测试方案
为解决研发人员在DDR内存系统研发、调试和验证测试的难题，推荐配置基于MSO64B示波器的内存调试及一致性测试系统，主要功能如下：
完整的覆盖DDR3和LPDDR3规范测试的项目
自动实现突发Write/Read信号分离，可以在同一次采集数据中完成参数测试；
对控制器端可以自定义修改电平门限，适用不同存储接口的设计；
支持CMD总线解码，更加直观的反应内存总线读写时序；
同时兼顾标准化测试和单项调试，可以用于产品调试和验证环节；
自动生成一致性测试报告，汇总测试数据和关键波形截图
TDP77系列三模探头，提供DDR测试专用FLEXB柔性连接附件，针对DDR芯片/颗粒狭小空间设计，配合Interposer完成各种类型DDR芯片的信号连接
系统中的MSO6B示波器是全新一代高精度/多通道信号采集与分析设备，具有12bits高分辨率ADC，uV级的本底噪声和50Gs/s高采样率，准确捕获和分析DDR读写和控制信号FlexChannel技术通过TLP058探头可以灵活将任一模拟通道转变为8路数字通道，实现数字通道测试。
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方案优势
使用泰克DDR测试系统，工程师可以享受到如下便利：
无需参考复杂的JEDEC规范，快速测试关键指标系统参数，找到系统潜在风险；泰克提供与JEDEC联合发布的测试MOI，指导使用者轻松完成信号连接、仪器设置与全自动或手动测试。
核心技术指标
1. 模拟通道数：不小于4通道
2. 带宽：不低于8GHz
3. 最高采样率：不小于50Gs/s
4. 垂直分辨率：不小于12bits（硬件，非软件实现）
5. 数字通道数：可支持32路数字通道
6. 本底噪声 (50Ω阻抗，4GHz，1mV/div，RMS) ：不大于100µV
7. 可视化触发：支持20个用户绘制区域的软件触发
8. 支持DDR3分析与调试功能，支持用户定义DDR速率
9. 支持自动DDR3一致性测试功能
10. 支持limit极限测试，支持用户自定义极限；支持自定义测试循环次数
11. 提供4只带宽不小于1GHz，电容不大于4pF无源高阻探头
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