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在半导体产业的高速发展浪潮中，碳化硅（SiC）作为第三代半导体材料的典型代表，以其卓越的"七高"特性——高电压、高频率、高电流、高温、高效率、高散热和高可靠性，正迅速占领电动汽车、5G通信、轨道交通和光伏太阳能等关键应用领域。碳化硅芯片的相关企业在追求高性能的同时，也面临着产量提升、成本控制和良率改进的多重挑战，尤其是良率的提升问题。
碳化硅产业链从衬底、外延制备，到器件设计、晶圆制造、模块封装，每一个环节都可能会对最终产品的性能和质量造成重大影响。同时，每个环节也在产生海量的数据，这些数据的整合、挖掘与利用，可以构建产品全生命周期的数据链，能为良率的提升做出不可忽视的贡献。
孤波为芯片企业提供了以数据驱动的方式提升硅后工作效率和产品质量的企业数字化系统，目前在超过100家芯片企业落地。孤波OneData大数据管理平台通过主动发现良率问题、快速响应处理并高效闭环量产异常问题，按产品多维度设置在线质量管控规则以及清晰简单地呈现管理层报告等，助力企业在芯片量产阶段实现更高效、更可靠的生产流程，从而在竞争激烈的市场中获得优势。
全方位良率管理包含哪些方面？
如何实现低良问题的主动发现与快速响应？
如何轻松在线设置质量及管控规则？
自动化良率报告到底能为管理者和工程师们带来哪些好处？
丰富、灵活的各类场景分析模版怎么搭建，如何利用？
更多良率提升的know-how与best practice等你来了解！
IPF 2024 碳化硅功率器件制造与应用测试大会，将于2024年6月26日-28日在江苏无锡长三角工业芯谷举办，孤波科技将出席本次大会并在展台作相关介绍（展台号：B18），欢迎参会与现场交流！立即点击了解详情！
IPF 2024 第二届碳化硅功率器件制造与应用测试大会
暨化合物半导体产业高峰论坛
—— 穿越周期 | 韧性增长
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