WitDisplay消息，5月22日开始在济州举行为期3天的半导体元件国际标准会议，在会议上，韩国正在推动韩国Mico-LED元件的检测设备技术成为国际标准。
最近，韩国主导着人工智能用新半导体和系统半导体工程零部件检测设备等国际标准的开发。此次会议新提出了显示器用Mico-LED元件质量评价方法。
Mico-LED是无机发光元件，比基于碳化合物的有机发光二极管（OLED）寿命更长。由于屏幕上没有留下残留的闪光现象，因此作为新一代显示器备受关注。
此次提出的标准是利用光致发光测量法的非接触式Mico-LED元件质量检测方法。光致发光测量法是指LED元件用激光灯接收光能量时，就像连接了电源一样发光，对该光进行分析检查的非接触式方法。
比基本的接通电源的接触式方法更快、更经济地确认是否有问题。Mico-LED元件的质检成本有望降低50%以上。此次提案是国标院“尖端产业国家标准化战略”的一环，利用韩国中小企业的Mico-LED检测设备技术推进。
韩国国标院标准政策局局长吴光海表示：“利用Mico-LED元件的新一代显示器目前即将正式商用化，因此期待大幅增长。我们将积极支援我国企业的设备技术以国际标准成为世界标准。”
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