功能介绍
晶圆级CP测试设备：我们的设备支持高精度的均匀度测试、缺陷检测与像素间感测差异测试，为感测器和光学元件的品质控制提供了全面的解决方案。
晶圆级量子效率测试设备：通过先进的量子效率测试、光子转移曲线分析与晶圆/滤光膜缺陷测试技术，我们的设备揭示了光电转换效率的各个细节，帮助客户实现产品性能的优化。
晶圆级斜向入射光量测设备：我们提供的设备包括独特的斜向入射光量测技术，支持Chief Ray Angle（CRA）分析、相位对焦测试（PDAF）与光串扰测试，为客户提供全面的光学性能评估工具。
光焱科技的晶圆级测试设备不仅使客户能够在产品开发的早期阶段就获得准确可靠的测试数据，还提供了重制晶圆的机会，以进一步节省研发成本并加速产品上市。我们致力于与客户携手共创未来，通过持续的技术创新与服务优化，推动半导体测试行业向前发展。
选择光焱科技，开启晶圆级测试的新篇章。我们期待成为您值得信赖的技术伙伴，共同探索半导体技术的广阔前景。
- SG-O 光传感器晶圆测试仪 应用领域-
CIS/ALS/光电探测器晶圆测试
CIS/ALS/光电探测器的晶圆测绘和良率检测
ToF 传感器测试
InGaAs PD_砷化铟镓光电二极管测试
激光雷达传感器测试
单光子雪崩二极管 (SPAD) 传感器的测试
- SG-O 光传感器晶圆测试仪 测试参数-
详细规格及产品资讯请点取下方 "阅读原文"
