前篇回顾：
瑞萨电容触摸技术之低功耗应用——RX140实验环节（1）
瑞萨电容触摸技术之低功耗应用——RX140实验环节 （2)-1
瑞萨电容触摸技术之低功耗应用——RX140实验环节 （2)-2
瑞萨电容触摸技术之低功耗应用——RX140实验环节 （2)-3
瑞萨电容触摸技术之低功耗应用——RX140实验环节 （2)-4
Lab Session 1
基于RX140创建一个基本的
含有12个自容按键的触摸应用工程
2.9
使用QE for Cap Touch监控触摸
底层数据以及触摸行为
2.9.1 按照"2.6运行程序"小节介绍的方法，在仿真状态下全速运行程序。
在"Cap Touch Workflow"的"4.monitoring"中，点击"Start Monitoring(Emulator)"下方的"Show Views"
2.9.2 "e2 studio"切换到"QE for CapTouch", 显示如下监控窗口。
界面左侧显示：
CapTouch Board Monitor (QE) View
CapTouch Multi Status Chart (QE) View
界面中间显示：
CapTouch Status Chart (QE) View
界面右侧显示：
CapTouch Parameters (QE) View
2.9.3 在"QE for CapTouch"的各个监控窗口中设定需要监控的"Touch I/F", 例如：
CapTouch Board Monitor (QE) View：
设定Button00 @config01
CapTouch Multi Status Chart (QE) View（最多设定8个TS通道）：
设定Button00，TS05 @config01
设定Button01，TS06 @config01
设定Button02，TS07 @config01
设定Button03，TS10 @config01
设定Button04，TS09 @config01
设定Button05，TS08 @config01
设定Button06，TS15 @config01
设定Button07，TS14 @config01
CapTouch Status Chart (QE) View：
设定Button00 @config01
CapTouch Parameters (QE) View：
设定Button00 @config01
2.9.4 在"CapTouch Board Monitor (QE) View" 中，点击 "Enabling Monitoring" 按钮
。
NOTE
"Enabling Monitoring"按钮，在各个监控窗口中都有，在使能监控功能时，点击个监控窗口中的"Enabling Monitoring"按钮可以
2.9.5 点击 "Enabling Monitoring" 按钮
使能监控功能后，各个监控窗口将以数据或者图形的形式，显示触摸底层数据或者触摸行为。
2.9.6 在"CapTouch Board Monitor (QE) View" 中，触摸按键的On/Off状态，通过"手形图标" 
显示。
如下图，Button02即为按下状态。
可通过点击
按钮，打开高级模式，将在页面下方动态显示各个按键的具体信息，包括Method，Kind，Name，Touch Sensor，Parasitic Capacitance，Sensor Driver Pulse Frequency，Threshold，Scan Time，以及Overflow等等。
2.9.7 在"CapTouch Multi Status Chart (QE) View"中，可在同一监控窗口，实时以数值的形式和波形的形式，显示多个TS通道的测量值数据。
最多可以设定八个TS通道。
可以点击
按钮，选择"Display Capacitance Converted from Count Value"，将各个TS通道下方的测量值数据由计数值改为电容值。
各个TS通道下方的测量值数据由计数值改为电容值，如下所示：
2.9.8 在"CapTouch Status Chart (QE) View"中, 可以实时显示单个TS通道的详细数据，例如：
实时测量值Count Value，波形图中的红色曲线。
基准参考值Reference Value, 也叫Baseline，波形图中的蓝色曲线。为实时测量值Count Value的长期平均值。
阈值Threshold，波形图中的绿色曲线。改变阈值，可调整触摸按键的灵敏度。
差分值Difference, 为实时测量值Count Value与基准参考值Reference Value的差值。
另外，用户可以在"CapTouch Status Chart (QE) View"中，通过"Start Data Collection"按钮，测量SNR数据。
NOTE
通过"Start Data Collection"按钮，测量SNR数据的方法，可参考如下各个MCU系列的文档：
RA FSP：Using QE and FSP to Develop Capacitive Touch Applications
https://www.renesas.cn/cn/zh/document/apn/using-qe-and-fsp-develop-capacitive-touch-applications
RX FIT：Using QE and FIT to Develop Capacitive Touch Applications Rev.3.00
https://www.renesas.cn/cn/zh/document/apn/rx-family-using-qe-and-fit-develop-capacitive-touch-applications
RL78 SIS：Using QE and SIS to Develop Capacitive Touch Applications Rev.2.10
https://www.renesas.com/jp/zh/document/apn/rl78-family-using-qe-and-sis-develop-capacitive-touch-applications
2.9.9 在"CapTouch Parameters (QE) View"中, 可以显示和修改，触摸按键的运行参数。
相同分组 (configuration) 内的各个按键，共享相同的运行参数。
单击选中各个参数后，下方窗口会显示该参数的意义。
修改各个参数的数值后按下回车键，然后可以通过单击右上方的按钮
，写入目标板，实时生效。
右上方各个功能按钮的功能，详见下面第二张图片。
点击按钮后，可显示/隐藏高级运行参数CTSUSO、CTSUSNUM、CTSUSDPA，通常不需要修改。
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下一节：调试触摸运行参数
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