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Integration
集成的层次
封装内集成的基本单元是上一步完成的裸芯片或者小芯片Chiplet,我们称之为功能单元 (Function Unit),这些功能单元在封装内集成形成了SiP。
芯片上的集成
从极简的视角来说,我们需要了解三类材料和三类工艺。导体、半导体、绝缘体虽然芯片上的材料非常多,现代集成电路中用到的材料几乎要穷尽元素周期表,所有的材料可以分为三大类:导体、半导体、绝缘体。导体负责传输电子,绝缘体负责隔离电子,其中最重要的自然是半导体,因为它是可变的,它有时候变成导体(导通),允许电子通过,有时候可变成绝缘体(关断),阻隔电子通过。并且,这种变化是可控的,通过设计特别的结构,并施加电流或者电压来控制。
加工艺简单来说就是在基底上增加材料,例如,离子注入,溅射、化学气相沉积CVD,物理气象沉积PVD等都可以归类为加工艺。
减工艺简单来说就是在去除材料,例如刻蚀,化学机械抛光CMP,晶圆整平等都可以归类为减工艺。
图形转移是三类工艺里面最多且最难的,因为每一步的加工艺或者减工艺基本都要以图形转移为依据。图形转移就是将设计的出来的图形,转移的晶圆上,涉及到的是掩膜、光刻、光刻胶。
产品是晶圆,晶圆被切割后就形成了芯片Chip或者芯粒Chiplet,为下一个层次的集成做准备。
封装内的集成
封装内集成不会用到半导体的特性,因此封装内集成所用的材料主要分为两大类:导体和绝缘体,集成的主要目的就是将上一层次(芯片上的集成)所完成的芯片或芯粒在封装内集成并进行电气互联,形成微系统封装内集成的结果就是形成以SiP、先进封装为代表的功能单元,我们可以称之为微系统。
PCB上的集成
Integration
集成的环节
芯片上集成的环节
芯片上的集成主要分为两大环节:器件制造和金属互连,也称为前段工艺FEOL和后段工艺BEOL。
晶体管层制造好后,通过钨等金属制造接触孔contact连接晶体管和首层布线,然后通过多层金属布线和过孔进行电气互连,早先的芯片用铝布线,现在的芯片多用铜布线。
下图所示为芯片上的金属互连线在显微镜下的照片,可以看出多层布线结构,目前的工艺可以支持超过10层以上的金属布线。
下图给出了前段工艺FEOL和后段工艺BEOL的结构示意图,先在硅基底上制造晶体管,然后通过金属互连将它们连接起来并引出到芯片的PAD。
封装内集成的环节
通过键合线Bond Wire将芯片的PAD连接到封装基板或者引线框架,然后再连接到外部引脚,通过引脚的排列方式,可分为BGA,CGA,QFP,LCC,SOP,DIP等多种封装形式。
倒装焊芯片由于无法堆叠,因此无法进行Z轴的延伸,人们就发明出了能打穿整个芯片体的通孔技术,被称作TSV(Through Silicon Via)技术。
TSV有许多工艺难点需要克服,我认为最需要解决的是TSV的位置选择和孔径缩小。
Interposer上的RDL和TSV制作
Substrate上的互连线路制作
封装基板一般顶部安装器件,底部通过BGA和PCB连接。
器件装配及封装
PCB上集成的环节
芯片在封装内集成完成后,尺寸还不够大,另外有些分立元器件、例如大的电容、变压器等也无法集成到芯片封装内部,因此,对于电子产品来说,PCB始终是必不可少的。
PCB的制造工艺和有机基板类似,其布线密度没有有机基板高,结构也相对比较简单。PCB上多采用通孔结构,虽然现在高密度HDI板也采用了盲埋孔结构,但通孔由于结构简单,成本低廉,在PCB中得到了普遍的应用。下图所示为6层通孔结构PCB,通过PCB,可将器件固定并进行电气互连。
从Transistor到PCB的全图
下面,我们给出一张从晶体管(Transistor)到PCB的集成全图,如下所示:
晶体管(NMOS或PMOS)在硅基底上制造完成后,通过接触孔连接到芯片上的金属布线,再连接到芯片的Pad,然后通过RDL连接到3DTSV,通过uBump连接到硅转接板上的RDL和2.5DTSV,再通过Bump连接到封装基板,然后通过封装基板上的连线和过孔连接到BGA,最后连接到PCB上的布线和过孔。从晶体管到PCB,完整的5级电信号通路如下:
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