【1月4日|苏州】是德科技毫米波与半导体测试测量新技术研讨会

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题目概要

>> 射频微波和毫米波器件测试

射频微波器件是构成各种电子和通信系统中的基础组成部分，对这些元器件的性能评估是很多工程师的日常工作内容。在这个专题里我们将介绍是德科技的网络分析仪产品及其测量应用，包括对放大器、变频器的增益、增益压缩、三阶交调、噪声系数、频谱杂散、调制信号激励下的ACPR 和EVM 测量；另外毫米波太赫兹元器件的测量需求越来越多，我们还将介绍是德科技的毫米波网络分析仪及其测量应用。

>> 材料测试原理及毫米波材料测试新方法

材料测试是现代工业制造和科学研究中必不可少的一环。通过测试准确表征材料特性，为材料的性能和质量提供准确的数据支持。在许多行业，如电子、汽车、航空航天等领域，材料测试更是必不可少的一项技术。

>> 物理层测试系统（PLTS）- 信号完整性分析的利器

这个专题主要介绍高速数字测试中信号完整性分析的方法，以及Keysight的一款专门的信号完整性分析软件：物理层测试系统（PLTS）。专题将首先介绍信号完整性分析的一些背景知识，以及信号完整性分析的测试需求；然后介绍PLTS软件的主要功能，以及它们如何很好应对这些测试需求；最后用几个测试实例演示基于PLTS的信号完整性分析，包括如何用自动夹具移除（AFR）精确提取并去嵌夹具特性。

>> 全面评估第三代半导体，从静态到动态参数测试

以SiC和GaN为代表的宽禁带半导体在现代电子领域日益发挥着重要的作用。然而，其测试过程常常面临一系列挑战。这些挑战主要集中在大电流，大电压，以及高频率等方面。本专题将深入探讨这些挑战，并详细介绍德科技在静态和动态测试中解决方案，以确保您的宽禁带半导体器件能够在最高水平上运行。通过本专题，可以了解到是德科技在大功率半导体测试领域的先进性与完整性。