半导体自动化设备如何为不同的测试要求选择合适的开关零件？
开关零件又是如何影响半导体自动化测试设备的精度和效率？
在半导体测试设备中，开关零件的性能决定了测试设备的测试效率，欧姆龙的专家将会介绍：
开关零件的反应速度影响单片芯片的测试时间
开关零件的大小会影响单次测试的线程数
开关零件的性能影响最终测试结果的精度
开关零件的寿命会影响设备的维护周
本次研讨会将介绍不同开关零件的适用场景，如何通过选择合适的开关零件来解决设备的测试痛点，达到最优的性能。
您还将了解到欧姆龙自行设计的USB Type C测试模组通过怎样的技术实现了高寿命，高效率，低成本的测试方案。：
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参与研讨会并回答问卷者将有机会获得由欧姆龙电子部件在线研讨会提供的：
欧姆龙商务双肩包(共1个)，蓝牙耳机（共2个），U盘（共4个），三合一数据线（共8个）。
（奖品以实物为准，最终解释权归欧姆龙电子部件所有。）
