从射频小白到测试专家，是德科技《射频测试基础与应用》系列讲座陪伴着工程师们一路走来，终于迎来了收官季！
历经寒暑，《射频测试基础与应用》系列讲座，从基础篇（网络分析仪基础、信号产生与分析基础）到网络分析仪应用篇，针对网络分析仪、信号源、信号分析仪基础理论、使用技巧、校准技术、射频测试仪器的日常使用与保养进行了深入浅出的介绍，分享了测试专家的实操经验与案例，对参会工程师在实际工作中遇到的各种使用问题、测试困扰进行了细致的释疑。
值此岁末时节，
我们迎来了本系列讲座的收官季
第四季《信号产生与分析应用篇》，重点介绍信号产生与分析的热点应用，涉及相位噪声、EMI的测试，以及面向功放的DPD测试和宽带信号的EVM优化测试，旨在助力工程师在测试中更加得心应手，加速产品的开发。
《射频测试基础与应用》系列讲座形式
• 技术讲解：30分钟
• 有问必答：现场参与的客户皆可向现场嘉宾提问，现场专家将逐一作答
• 案例分享：专家现场分享行业内典型案例
类别 | 日期 | 题目 |
信号产生与分析应用篇 | 11月24日 14:00-16:00 | 相位噪声测量原理和解决方案 |
12月8日 14:00-16:00 | 加速EMI测试，助力合规产品面世 | |
12月22日 14:00-16:00 | 宽带功放DPD(数字预失真)测量与评估 | |
1月12日 14:00-16:00 | 优化EVM测量 |
为这个激动人心的学习和成长之旅
画上一个圆满的句号！
