01
会议介绍
本次研讨会将带大家回顾几种常用的校准方法（SOLT、未知直通校准、TRL校准等）的原理，并深入探讨这些校准方法的具体操作步骤和需要注意的问题。其中还会涉及到一些常用的应用场景，如在片晶圆校准、毫米波频段的波导校准。另外我们还会探讨TRL校准件的设计、验证和具体校准的过程，PCB夹具移除的方法（AFR），以及实时不确定度分析的具体方法。
02
内容提纲
1.
SOLT校准
2.
未知直通校准
3.
增强响应校准
4.
TRL校准、TRL校准件的设计和验证
5.
自动夹具移除（AFR）
6.
不确定度分析实例
7.
技术问答和交流时间
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03
演讲及答疑专家
演讲专家：程宁
专家职务：政府行业解决方案事业部资深应用专家
专家简介：程宁是是德科技的应用工程师。他的专长主要在网络分析仪的校准和测量、有源器件（如放大器和变频器）的测量和表征、毫米波测试应用、信号完整性分析等。他曾在安捷伦/是德科技的中国软件研发中心担任6年研发工程师，并发表过多篇和夹具移除有关的文章。他于2007年毕业于北京邮电大学的通信与信息系统专业。
演讲专家：于洋
专家职务：高级应用工程师
专家简介：本科及研究生毕业于电子科技大学电磁场与微波技术专业，曾长期从事射频微波系统及半导体相关的研发工作，并著有多篇学术交流文章。于2014年加入是德科技，担任技术与支持部应用工程师，主要从事射频微波类产品、阻抗分析及半导体参数分析类产品的技术支持工作，对元器件/半导体器件等相关参数测试有着丰富经验。
答疑专家：刘迪
专家职务：政府行业解决方案事业部负责人
专家简介：是德科技政府行业解决方案事业部负责人，2007年加入安捷伦/是德科技，毕业于北京邮电大学电信工程学院电磁场与微波技术专业，硕士学位。
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奖项设置
罗技（Logitech）H340电脑耳机
