更小存储单元尺寸（Cell Size），更高性能（Performance）以及更低功耗（Power Consumption）是存储器业者持续追求的目标。
在过去的十年里，研究人员已经公布了几十种新的NVM技术，每种技术都需要测试读写速度、可靠性、功耗、存储密度和可扩展性等。除了常规的存储单元的读写特性，耐久性，可靠性等测试之外，新技术要求超高速（亚nS级）脉冲的输入和瞬态响应测试，以满足对实际读写速度的测试需求。
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泰克一系列解决方案
RRAM作为一种新型存储器件广深研究人员青睐，由此引申的神经元网络技术方兴未艾。如何将测试仪器和技术引入到先进尖端的科研技术中，并帮助半导体产业的蓬勃发展，是泰克公司的使命。
本次直播，我们将重点介绍：
新型NVM器件测试
- 新型NVM（非易失性存储器）器件的典型测试
- 新型NVM测试方案
超快脉冲在NVM测试的应用及挑战
- 新型NVM测试调整分析
- 脉冲在测试中的应用
- 将超快脉冲应用到NVM测试中
神经元网络测试技术前瞻
- 忆阻器，神经元网络–前沿的AI 技术
- 实体测试系统搭建和测试挑战及愿景
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直播日程
赵咏梅
泰克科技公司
半导体行业开发经理
毕业于上海交通大学，获得信息与控制工程专业学士和硕士学位。2003年加入泰瑞达公司，负责半导体ATE测试系统的售前技术支持工作；2007年加入泰克公司，负责Keithley 产品线在大中华区技术支持工作；2017年任半导体行业开发经理职务。
在半导体测试测量行业从业17年，熟悉半导体功能测试和参数测试，致力于KEITHLEY全产品线在半导体，光电，精密电子，教育科研行业的方案建立和推广支持工作。
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邮箱：china.mktg@tektronix.com
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电话：400-820-5835(周一至周五9:00-17:00)
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