本文详细介绍了通常应用于IF和基带的高速模数转换器(ADC)的正确布板、元件选择及元件布局。文中以高分辨率、高速数据转换器MAX12555系列为例,介绍了优化电路设计、正确高速布板、旁路和去耦技巧、热管理、元件选择及布局。
本文分为三部分:一般性建议、电路设计建议、布板建议。
一般性建议概要介绍了如何在应用中发挥器件的最佳总体性能,讨论了一般情况下器件外围元件的最佳布局,提出了有关物理PCB本身的建议。
电路设计建议介绍了最关键和最敏感引脚处元件的推荐值。
布板建议中详细介绍了外围元件布局,指出哪些元件应放在顶层,哪些应放在底层,同时还提供了有关PCB的附加信息。
图1. MAX12555的引脚排列
表1. 引脚说明
引脚 | 名称 | 功能 |
1 | REFP | 正基准I/O。满幅模拟输入范围为±(VREFP - VREFN) x 2/3,REFP通过一个0.1µF电容旁路至GND。REFP与REFN之间并联一个1µF的电容和一个10µF电容。REFP和REFN间的1µF电容应与器件位于同一侧,并尽可能靠近器件。 |
2 | REFN | 负基准I/O。满幅模拟输入范围为±(VREFP - VREFN) x 2/3,REFN通过一个0.1µF电容旁路至GND。REFP与REFN之间并联一个1µF的电容和一个10µF电容。REFP和REFN间的1µF电容应与器件位于同一侧,并尽可能靠近器件。 |
3 | COM | 共模电压I/O。COM通过一个2.2µF电容旁路至GND。将2.2µF COM至GND的旁路电容尽可能靠近器件,可以放置在PCB另外一侧,通过1个过孔与ADC连接。 |
4, 7, 16, 35 | GND | 地。所有地引脚与EP相连。 |
5 | INP | 同相模拟输入。 |
6 | INN | 反相模拟输入。 |
8 | DCE | 占空比均衡器输入。DCE接低电平(GND)禁止内部占空比均衡器。DCE接高电平(OVDD或VDD)使能内部占空比均衡器。 |
9 | CLKN | 反相时钟输入。在差分时钟模式(CLKTYP = OVDD或VDD),差分时钟信号接在CLKP与CLKN之间。在单端时钟模式(CLKYP = GND),单端时钟信号接CLKP,CLKN接GND。 |
10 | CLKP | 同相时钟输入。在差分时钟模式(CLKTYP = OVDD或VDD),差分时钟信号接在CLKP与CLKN之间。在单端时钟模式(CLKYP = GND),单端时钟信号接CLKP,CLKN接GND。 |
11 | CLKTYP | 时钟模式定义输入,CLKTYP接GND时为单端时钟输入。CLKTYP接OVDD或VDD时为差分时钟输入。 |
12-15, 36 | VDD | 模拟电源输入。VDD连至3.15V至3.60V电源。VDD通过一个≥2.2µF的电容并联一个0.1µF电容旁路至GND。所有VDD引脚连至相同电位。 |
17, 34 | OVDD | 输出驱动器电源输入。OVDD可连至1.7V至VDD的电源。OVDD通过一个≥2.2µF的电容并联一个0.1µF电容旁路至GND。 |
18 | DOR | 数据超量程指示。DOR输出用来指示模拟输入电压超量程。DOR为高电平时,表明模拟输入电压超出范围。DOR为低电平时,表明模拟输入电压在量程以内。 |
19 | D13 | CMOS数字输出,第13位(MSB)。 |
20 | D12 | CMOS数字输出,第12位。 |
21 | D11 | CMOS数字输出,第11位。 |
22 | D10 | CMOS数字输出,第10位 |
23 | D9 | CMOS数字输出,第9位。 |
24 | D8 | CMOS数字输出,第8位。 |
25 | D7 | CMOS数字输出,第7位。 |
26 | D6 | CMOS数字输出,第6位。 |
27 | D5 | CMOS数字输出,第5位。 |
28 | D4 | CMOS数字输出,第4位。 |
29 | D3 | CMOS数字输出,第3位。 |
30 | D2 | CMOS数字输出,第2位。 |
31 | D1 | CMOS数字输出,第1位。 |
32 | D0 | CMOS数字输出,第0位(LSB)。 |
33 | DAV | 数据有效输出。DAV是输入时钟经占空比补偿校正后的单端输出,DAV的典型应用是将ADC的输出数据锁存至后端的数字电路。 |
37 | PD | 关断输入。将PD强制置高,器件进入关断模式。正常工作时PD置低。 |
38 | REFOUT | 内部基准电压输出。采用内部基准电压时,REFOUT直接连至REFIN,或通过一个电阻分压器设定REFIN输入电压。REFOUT通过一个≥0.1µF的电容旁路至GND。 |
39 | REFIN | 基准电压输入。在内部基准模式和带缓冲的外部基准模式,REFIN通过一个≥0.1µF的电容旁路至GND。此时,VREFP - VREFN = VREFIN x 3/4。在无缓冲的外部基准模式下,REFIN连至GND。 |
40 | G/ /T | 输出格式选择输入。G/ /T接GND为二元补码格式输出。G/ /T接与OVDD或VDD为格雷码格式输出。 |
- | EP | 裸焊盘。通过裸焊盘实现与地的低电感连接。将EP连至GND以保证设计性能。PCB顶层和底层的地平面通过多个过孔连接。 |
01
一般性建议
02
电路设计建议
(引脚1,REFP):通过一个位于PCB顶层的高频陶瓷电容(最大1.0µF)将REFP旁路至GND。所有REFP走线应尽可能短。
03
布板建议
建议采用典型值为1.4VP-P的差分时钟输入,这是器件的特性之一。但时钟输入信号摆幅的峰值并不是最重要的,保证快速上升和下降时间的摆率更重要。另外,内部差分放大器可提供增益,对信号进一步整形。评估板采用一个中心抽头变压器放大时钟输入,以确保快速上升和下降时间,然后再用二极管将摆幅限制在1.4VP-P。对于单端时钟信号来说,边沿应较陡,并且满足数据资料规定的最高和最低电压要求,即逻辑高电平最低为0.8VDD,逻辑低电平最高为0.2VDD。时钟共模电压(1/2VDD)由内部提供。推荐的接口电路/驱动器逻辑:任何逻辑输入,包括CMOS、LVPECL、LVDS都可用于驱动时钟输入。对于高频输入信号的应用,建议采用非常高速的LVPECL时钟分配电路,如MAX9320 PECL缓冲器。
总结:本应文是器件和评估板数据资料的补充,用户可在应用中根据提供的建议优化器件性能。
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