随着5G，AI，云计算，元宇宙等新兴技术的不断发展，对以USB Type-C, PCIEG5/G6,50G/100G/200G Ethernet ACC/AEC/AOC等为代表的高速数字互连技术提出了更高的要求。
以USB Type-C为例，USB-IF协会为了保证高达20Gbps/Lane的USB4 Gen3信号的可靠传输，推出了Get_iPar和IntePar一致性测试工具，编译44组或30组S4P参数，得到ILfitatNq、IRL、IMR、COM等结果，用于高速互连测试结果Pass/Fail的判断。
本研讨会在全面、系统地介绍是德科技所有高速数字互连测试方案的基础上，着重介绍业内第一个全自动化的USB Type-C互连一致性测试方案，希望对大家的工作有所帮助。
研讨会时间：
2022年12月20日 14:00-15:30
研讨会日程：
1.
高速数字互连的市场现状和发展趋势
2.
高速互连已有解决方案简介
3.
基于PXI VNA 和PLTS的电缆组件多端口自动测试系统简介
4.
全新的全自动化USB Type-C互连一致性测试方案介绍
5.
USB Type-C互连一致性测试方案应用实例
演讲嘉宾：
演讲专家：张晓
专家职务：技术方案工程师
专家简介：张晓先生毕业于郑州大学电气工程专业(本科及硕士研究生)，于2016年加入是德科技。从2010年开始从事高速数字技术测试测量方案的开发和相关应用的技术支持工作，目前主要负责华东地区高性能示波器、误码仪、逻辑协议分析仪、网络分析仪等产品及应用的技术咨询和支持。
答疑嘉宾：程宁
专家职务：政府行业解决方案事业部应用工程师
专家简介：程宁是是德科技的应用工程师。他的专长主要在网络分析仪的校准和测量、有源器件（如放大器和变频器）的测量和表征、毫米波测试应用、信号完整性分析等。他曾在安捷伦/是德科技的中国软件研发中心担任6年研发工程师，并发表过多篇和夹具移除有关的文章和一篇美国专利。他于2007年毕业于北京邮电大学的通信与信息系统专业。
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