当DAQ信号链被隔离之后，控制采样保持开关的信号一般来自进行多通道同步采样的背板。系统设计人员选择低抖动数字隔离器至关重要，以使进入ADC的采样保持开关的控制信号具有低抖动。精密高速ADC应首选使用LVDS接口格式，以满足高数据速率要求。它还会对DAQ电源层和接地层带来极小的干扰。本文将说明如何解读ADI公司的LVDS数字隔离器的抖动规格参数，以及与精密高速产品（例如 ADAQ23875 DAQ µModule®解决方案）接口时，哪些规格参数比较重要。本文的这些指导说明也适用于其他带有LVDS接口的精密高速ADC，在介绍与 ADN4654 千兆LVDS隔离器配合使用的ADAQ23875时，还将说明计算对SNR预期影响采用的方法。
通常，时钟源在时域中存在抖动。在设计DAQ系统时，了解时钟源中包含多少抖动是非常重要的。
图1展示了非理想型振荡器的典型输出频谱，在1 Hz带宽时噪声功率与频率成函数关系。相位噪声的定义为指定频率偏移fm下1 Hz带宽内的噪声与基波频率fo下振荡器信号幅度的比率。
图1.受相位噪声影响的振荡器功率频谱。
采样过程是采样时钟与模拟输入信号的乘法。这种时域中的乘法相当于频域中的卷积。所以，在ADC转换期间，ADC采样时钟的频谱与纯正弦波输入信号卷积，使得采样时钟或相位噪声上的抖动出现在ADC输出数据的FFT频谱中，具体如图2所示。
图2.带相位噪声采样时钟对理想正弦波采样的影响。
多相功率分析仪就是一个隔离式精密高速DAQ应用示例。图3显示典型的系统架构，其中通道与通道之间隔离，通过共用背板用于与系统计算或控制器模块通信。在本示例中，我们选择ADAQ23875精密高速DAQ解决方案，因为其尺寸小，所以能够在狭小空间内轻松安装多个隔离DAQ通道，从而可以减轻现场测试应用中移动仪器的重量。使用LVDS千兆隔离器(ADN4654)将DAQ通道与主机箱背板隔离。
通过隔离每个DAQ通道，可以在不损坏输入电路的情况下，将每个通道直接连接至具有不同共模电压的传感器。每个隔离DAQ通道的接地跟踪具有一定电压偏移的共模电压。如果DAQ信号链能够跟踪与传感器相关的共模电压，就无需使用输入信号调理电路来支持较大的输入共模电压，并消除对下游电路来说较高的共模电压。这种隔离还可带来安全性，并消除可能会影响测量精度的接地环路。
在功率分析仪应用中，在所有DAQ通道中实现采样事件同步至关重要，因为与采样电压相关的时域信息不匹配会影响后续计算和分析。为了在通道间同步采样事件，ADC采样时钟通过LVDS隔离器从背板发出。
在图3所示的隔离式DAQ架构中，以下这些抖动误差源会增加控制ADC中采样保持开关的采样时钟上的总抖动。
采样时钟抖动的第一来源是参考时钟。该参考时钟通过背板传输至每个隔离式精密高速DAQ模块和其他插入背板的测量模块。该时钟用作FPGA的时序参考；所以，FPGA中的所有事件、数字模块、PLL等的时序精度都取决于参考时钟的精度。在没有背板的某些应用中，使用板载时钟振荡器作为参考时钟源。
采样时钟抖动的第二来源是FPGA带来的抖动。注意，FPGA中包含一条触发-执行路径，并且FPGA中PLL和其他数据模块的抖动规格都会影响系统的整体抖动性能。
采样时钟抖动的第三来源是LVDS隔离器。LVDS隔离器产生附加相位抖动，会影响系统的整体抖动性能。
采样时钟抖动的第四来源是ADC的孔径抖动。这是ADC本身固有的特性，请参阅数据手册查看具体定义。
图3.通道与通道之间的隔离DAQ架构
有些参考时钟和FPGA抖动规格基于相位噪声给出。要计算对采样时钟的抖动贡献，需要将频域中的相位噪声规格转化为时域中的抖动规格。
相位噪声曲线有些类似于放大器的输入电压噪声频谱密度。与放大器电压噪声一样，最好在振荡器中使用1/f低转折频率。振荡器通常用相位噪声来描述性能，但为了将相位噪声与ADC的性能关联起来，必须将相位噪声转换为抖动。为将图4中的图与现代ADC应用关联起来，选择100 MHz的振荡器频率（采样频率）以便于讨论，典型曲线如图4所示。请注意，相位噪声曲线由多条线段拟合而成，各线段的端点由数据点定义。
图4.根据相位噪声计算抖动。
计算等量rms抖动时，第一步是获取目标频率范围中的积分相位噪声功率，即曲线区域A。该曲线被分为多个独立区域（A1、A2、A3和A4），每个区域由两个数据点定义。假设振荡器与ADC输入端之间无滤波，则积分频率范围的上限应为采样频率的2倍，这近似于ADC采样时钟输入的带宽。积分频率范围下限的选择也需要一定的斟酌。理论上，它应尽可能低，以便获得真实的rms抖动。但实际上，制造商一般不会给出偏移频率小于10 Hz时的振荡器特性，不过这在计算中已经能够得出足够精度的结果。多数情况下，如果提供了100 Hz时的特性，则选择100 Hz作为积分频率下限是合理的。否则，可以使用1 kHz或10 kHz数据点。还应考虑，近载波相位噪声会影响系统的频谱分辨率，而宽带噪声则会影响整体系统信噪比。最明智的方法或许是对各区域分别积分，并检查各区域的抖动贡献幅度。如果使用晶体振荡器，则低频贡献与宽带贡献相比，可能可以忽略不计。其它类型的振荡器在低频区域可能具有相当大的抖动贡献，必须确定其对整体系统频率分辨率的重要性。各区域的积分产生个别功率比，然后将各功率比相加，并转换回dBc。已知积分相位噪声功率后，便可通过下式计算rms相位抖动（单位为弧度）：
以上结果除以2πf0，便可将用弧度表示的抖动0转换为用秒表示的抖动：
高性能DAQ系统中使用的参考时钟源一般为晶体振荡器，与其他时钟源相比，它可以提供更出色的抖动性能。我们一般使用表1所示的示例在数据手册中定义晶体振荡器的抖动规格。在量化参考时钟的抖动贡献时，相位抖动是最重要的规格指标。相位抖动通常定义为边沿位置相对于平均边沿位置的偏差。
表1.数据手册中给出的晶体振荡器抖动规格示例
另一方面，有一些晶体振荡器指定相位噪声性能，而不是指定抖动。如果振荡器数据手册定义了相位噪声性能，可以将噪声值转化为抖动，如"根据相位噪声计算抖动"部分所述。
FPGA的抖动性能通常在FPGA数据手册中给出。也会在大部分FPGA软件工具的静态时序分析(STA)中给出，如图5所示。时序分析工具可以计算数据路径源和目的地的时钟不确定性，并将它们组合以获得总时钟不确定性。为了自动在STA中计算参考时钟抖动量，必须在FPGA项目中将其添加为输入抖动约束。
图5.静态时序分析(STA)示例视图。
查看抖动的最基本方法是用差分探针去测量LVDS信号对，并且上升沿和下降沿上均要触发，示波器设定为无限持续。这意味着高至低和低至高的跃迁会相互迭加，因此可以测量交越点。交越宽度对应于峰峰值抖动或截至目前所测得的时间间隔误差(TIE)。比较图6和图7所示的眼图和直方图。有一些抖动是随机来源（例如热噪声）所导致，此随机抖动(RJ)意味着示波器上所看到的峰峰值抖动会受到运行时间的限制（随着运行时间增加，直方图上的尾巴会升高）。
图6.ADN4651的眼图。
图7. ADN4651的眼图直方图。
相比之下，确定性抖动(DJ)的来源是有界限的，例如脉冲偏斜所导致的抖动、数据相关抖动(DDJ)和符码间干扰(ISI)。脉冲偏斜源于高至低与低至高传输延迟之间的差异。这可以通过偏移交越实现可视化，即在0 V时，两个边沿分开（很容易通过图7中直方图内的分隔看出来）。DDJ源于不同工作频率时的传输延迟差异，而ISI源于前一跃迁频率对当前跃迁的影响（例如，边沿时序在一连串的1s或0s与1010模式码之后通常会有所不同）。
图8.总抖动贡献来源。
图8显示如何充分估算特定误码率下的总抖动(TJ@BER)。可以根据模型与测量所得的TIE分配之间的拟合状态来计算随机抖动和确定性抖动。此类模型中的一种是双狄拉克模型，它假设高斯随机分布与双狄拉克δ函数卷积（两个狄拉克δ函数之间的分隔距离对应于确定性抖动）。对于具有明显确定性抖动的TIE分布而言，该分布在视觉上近似于此模型。有一个难点是某些确定性抖动会对高斯分量带来影响，亦即双狄拉克函数可能低估确定性抖动，高估随机抖动。然而，两者结合仍能精确估计特定误码率下的总抖动。
随机抖动规定为高斯分布模型中的1 σ rms值，若要推断更长的运行长度（低BER），只需选择适当的多σ，使其沿着分布的尾端移动足够长的距离（例如，1 × 10-12位错误需要14 σ）即可。接着加入DJ以提供TJ@BER的估计值。对于信号链中的多个元件，与其增加会导致高估抖动的多个TJ值，不如将RJ值进行几何加总，将DJ值进行代数加总，这样将能针对完整的信号链提供更为合理的完整TJ@BER估计。
ADN4654的RJ、DJ和TJ@BER全都是分别指定的，依据多个单元的统计分析提供各自的最大值，藉以确保这些抖动值在电源、温度和工艺变化范围内都能维持。
图9显示ADN4654 LVDS隔离器的抖动规格示例。对于隔离式DAQ信号链，附加相位抖动是最重要的抖动规格。附加相位抖动与其他抖动源一起使ADC孔径抖动增加，从而导致采样时间不准确。
图9.ADN4654抖动规格。
孔径抖动是ADC的固有特性。这是由孔径延迟中的样本间变化引起的，与采样事件中的误差电压对应。在开关断开的时刻，这种样本间变化称为"孔径不确定性"或"孔径抖动"，通常用均方根皮秒(ps rms)来衡量。
在ADC中，如图10和图11所示，孔径延迟时间以转换器输入作为基准；应考虑通过输入缓冲器的模拟传输延迟ta的影响；以及通过开关驱动器的数字延迟tdd的影响。以ADC输入为基准，孔径时间ta'定义为前端缓冲器的模拟传播延迟tda与开关驱动器数字延迟tdd的时间差加上孔径时间的一半ta/2。
图10.ADC的采样保持输入级。
图11.采样保持波形和定义。
以ADAQ23875为例，孔径抖动仅约0.25 psRMS，如图12所示。此规格通过设计保证，但未经测试。
图12.ADAQ23875孔径抖动。
另一方面，如果使用了STA，则简化的时钟抖动计算公式为：
对控制采样保持开关的信号的整体抖动进行量化之后，现在可以量化抖动对DAQ信号链的SNR性能的影响程度。图13显示采样时钟上的抖动所造成的误差。
图13.采样时钟抖动造成的影响。
通过下面的简单分析，可以预测采样时钟抖动对理想ADC的SNR的影响。
假设输入信号由下式给出：
该信号的变化速率由下式给出：
将幅度2πfVO除以√2可以获得dv/dt的rms。现在令ΔVrms = rms电压误差，Δt = rms孔径抖动tj，并代入这些
求解ΔVrms：
满量程输入正弦波的rms值为VO/√2。因此，rms信号与rms噪声的比值（用dB表示）由频率给出：
该公式假设ADC具有无限的分辨率，孔径抖动是决定SNR的唯一因素。图14给出了该公式的图形，它说明孔径和采样时钟抖动对SNR和ENOB有严重影响，特别是当输入/输出较高时。
ADAQ23875的孔径抖动（典型值）为250 fs rms，ADN4654的附加相位抖动为387 fs rms (fOUT = 1 MHz)。在这种情况下，我们暂且不考虑参考时钟和FPGA的抖动贡献。
现在，根据ADC和隔离器的抖动规格，我们可以使用以下公式计算总rms抖动：
图14和图15显示了计算得出的隔离式精密高速DAQ系统的最大SNR和ENOB性能。SNR和ENOB随输入频率降低，与图13中所示的SNR理论图一致。
图15.针对ADAQ23875和ADN4654计算得出的SNR的最大值。
