芯片温度检测，你都知道哪些方法？
使用热电偶测量👉（接触式测温，易产生误差）
参照经典的结温方程（TJ = TA + PDϑJA ）计算温度👉（相对保守，与实际温度差别较大）
利用二极管作为温度传感器来检测👉（只适用于某些特定情况）
......
上述几种测温方法，都不能完全适用于芯片各环节的温度检测，那么，如何才能实现精准高效测温？
芯片热像检测应用案例
1. 温度直观精准
图片为LED功率型芯片测试，芯片尺寸为1mm*1mm，针对此芯片，我们不仅需要保证其金属部分的温度一致，非金属部分的温度也要保证一致。
由于芯片较小，接触测量的话容易因接触物而改变芯片自身温度。FOTRIC 热像仪为非接触测，＜50mk的热灵敏度，能精准检测各部位的温差，判断是否符合要求。
2. 全辐射热像视频流
贴片保险用于保护电路板，当电流过大时，保险会熔断以保护电路，熔断过程只有300ms左右，很难通过拍照捕捉到。
而FOTRIC 热像仪的全辐射热像视频录制功能，可以实时记录通电过程的温度变化和分布情况，可随时查看温升曲线，还可以对视频进行后期的任意分析，便于发现问题，改善设计。
3. 配备50μm/100μm 微距镜
▲未封装芯片温度检测
4. 强大的软件支持
查看更多成像效果图 ↓
配置推荐
（戳视频，了解更多产品性能！）
FOTRIC 近期推出的 246M 微观检测热像仪测试平台，专为芯片等微观检测而生，精准获取芯片的微观数据：
精选全球尖端硬件
研发专用测试台
配备50μm 和 100μm 可选镜头
支持线温分布图、直方图和三维图显示
触发条件后自动记录热像数据
批量处理热像文件，生成热像报告
