LiDAR是一种激光遥感传感器，其英文全名为Light Detection And Ranging，中文称为『光学雷达』或『激光雷达』，可应用于高级驾驶辅助系统（ADAS）的自适应巡航控制、自动紧急制动、行人检测、车道保持辅助、盲区预警与前向碰撞预警等，其主要功能为精准测距。
激光雷达通常由激光光源、光探测器和光束操纵组件等三部分组成。激光光源一般采用半导体激光器；光探测器通常采用光电二极管（Photodiode, PD）或雪崩光电二极管（Avalanche photodiode, APD）等；光束操纵组件则分为机械扫描式、混合/全固态扫描式（MEMS微振镜、OPA、Flash等）。目前车用激光雷达常用的测距原理主要以飞行时间法（Time of Flight, ToF）为主。
雪崩光电二极管被广泛用作车用ToF激光雷达的探测器，其市场需求将随着无人驾驶的发展不断增长。
单光子雪崩二极管（Single Photon Avalanche Diode，SPAD）是一种半导体光探测器。当我们在SPAD两端施加更高的反向偏置电压（硅材料通常为100-200 V），光子进入硅材料后，利用电离碰撞（雪崩击穿）的效应，大约可以获得数百倍的内部电流增益，进而引发连锁倍增效应。这时候的光电流就会非常大，能够很轻易地被电路侦测到。在工艺中，通过不同的掺杂技术，可以给SPAD施加更高的电压而不会被击穿，从而获得更大的增益。一般来说，反向电压越高，增益越大。
为了实现更精准的器件测试，光焱科技开发出一款商业标准化新型SPD单光子探测器特性测试分析设备——SPD2200。
SPD2200适用各种传感器测试分析，包含：
- SPAD
- SPD (Single Photon Detector)
- SiPM (Si PhotoMultiplier)
- MPPCs (Multi-Pixel Photon Counter)
- dToF Light Sensor
- LiDAR Sensor
- Wafer Level SPAD
性能测试
SPD2200具备的全光谱性能测试包含：
- 全光谱光谱响应 (SR, Spectral Responsivity)
- 全光谱量子效率 (EQE, External Quantum Efficiency)
- 全光谱光子探测率 (PDP, Photon Detection Probability)
- 暗计数DCR (Dark Count Rate)
- 击穿电压BDV (Break-Down Voltage)
在不同电压下，SPAD光子探测效率的PDE光谱
SPAD的暗计数与偏压关系图
SPAD暗计数与崩溃电压
SPD2200亦能够测试SPD的单光子辨析特性分析，包含：
- Jitter
- Afterpulsing probability
- Diffusion tail
- SNR
SPAD的Jitter测量
关于光焱科技 (Enlitech)
Enlitech成立于2009年，专注于人造模拟光源与光谱分析技术。针对光电传感器，提供先进、定制化的测量解决方案，致力于提升光电传感器的性能，促进科技的进步与人类生活的改善。
我们提供多种标准光源与测试分析解决方案，包含
(1) 航天级图像传感器表征分析系统；
(2) CMOS图像传感器/CIS相机模块特性检测；
(3) 光学屏下指纹识别测试方案；
(4) 晶圆级图像传感器测试解决方案；
(5) 单光子探测器测试解决方案。
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