芯片温度检测,你都知道哪些方法?
使用热电偶测量👉(接触式测温,易产生误差)
参照经典的结温方程(TJ = TA + PDϑJA )计算温度👉(相对保守,与实际温度差别较大)
利用二极管作为温度传感器来检测👉(只适用于某些特定情况)
......
上述几种测温方法,都不能完全适用于芯片各环节的温度检测,那么,如何才能实现精准高效测温?
芯片热像检测应用案例
1. 温度直观精准
图片为LED功率型芯片测试,芯片尺寸为1mm*1mm,针对此芯片,我们不仅需要保证其金属部分的温度一致,非金属部分的温度也要保证一致。
由于芯片较小,接触测量的话容易因接触物而改变芯片自身温度。FOTRIC 热像仪为非接触测,<50mk的热灵敏度,能精准检测各部位的温差,判断是否符合要求。
2. 全辐射热像视频流
贴片保险用于保护电路板,当电流过大时,保险会熔断以保护电路,熔断过程只有300ms左右,很难通过拍照捕捉到。
而FOTRIC 热像仪的全辐射热像视频录制功能,可以实时记录通电过程的温度变化和分布情况,可随时查看温升曲线,还可以对视频进行后期的任意分析,便于发现问题,改善设计。
3. 配备50μm/100μm 微距镜
▲未封装芯片温度检测
4. 强大的软件支持
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配置推荐
(戳视频,了解更多产品性能!)
FOTRIC 近期推出的 246M 微观检测热像仪测试平台,专为芯片等微观检测而生,精准获取芯片的微观数据:
精选全球尖端硬件
研发专用测试台
配备50μm 和 100μm 可选镜头
支持线温分布图、直方图和三维图显示
触发条件后自动记录热像数据
批量处理热像文件,生成热像报告