据麦姆斯咨询报道，光电传感器表征专家光焱科技（Enlitech）日前推出全球第一套商业标准化的最新型单光子探测器 (SPD, Single Photon Detector) 特性测试分析设备SPD2200。光焱科技整合了所有先进光学与电学系统，提供完整与便利的软件控制接口与分析功能，助力客户加速直接飞行时间（dToF）单光子雪崩二极管（SPAD）产品的开发周期，提升竞争力。
测试分析
SPD2200具备的全光谱性能测试包含：
- 全光谱光谱响应 (SR, Spectral Responsivity)
- 全光谱量子效率 (EQE, External Quantum Efficiency)
- 全光谱光子探测率 (PDP, Photon Detection Probability)
- 暗计数DCR (Dark Count Rate)
- 崩溃电压BDV (Break-Down Voltage)
在不同电压下，SPAD光子探测效率的PDE光谱
SPAD的暗计数与偏压关系图
SPAD暗计数与崩溃电压
SPD2200亦能够测试SPD的单光子辨析特性分析，包含：
- Jitter
- Afterpulsing probability
- Diffusion tail
- SNR
SPAD的Jitter测量
适用范围
SPD2200适用各种传感器测试分析，包含：
- SPAD
- SPD (Single Photon Detector)
- SiPM (Si PhotoMultiplier)
- MPPCs (Multi-Pixel Photon Counter)
- dToF Light Sensor
- LiDAR Sensor
- Wafer Level SPAD
关于光焱科技 (Enlitech)
Enlitech成立于2009年，专注于人造模拟光源与光谱分析技术。针对光电传感器，提供先进、定制化的测量解决方案，致力于提升光电传感器的性能，促进科技的进步与人类生活的改善。
我们提供多种标准光源与测试分析解决方案，包含：
(1) 航天级图像传感器表征分析系统；
(2) CMOS图像传感器/CIS相机模块特性检测；
(3) 光学屏下指纹识别测试方案；
(4) 晶圆级图像传感器测试解决方案；
(5) 单光子探测器的测试解决方案。
我们让传感器变得更好，欢迎与我们联系!
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