我们邀请到英国Quarch公司CTO，Andy Norrie本周六晚上针对中国用户进行一次技术讲座，本次讲座主要讲述M.2低功耗问题分析，同时也涉及针对企业级PCIe Gen5 SSD的热插拔自动化测试，以及各种芯片、板卡的故障模拟，电压拉偏，功耗测试，sideband signal信号分析，等等。
由于M.2 SSD低功耗涉及各类消费类以及汽车电子和嵌入式系统涉及，例如：笔记本，移动终端，导航，汽车电子等领域，所以本次技术讲座适用于从事这方面产品研发、测试和应用的工程师，对于从事企业级服务器，存储系统，CPU，GPU，DPU，MaPU，SmartNIC，各类加速卡以及AI人工智能等系统和芯片开发和测试的工程师也有帮助。
讲座时间：4/2（周六）20:00 ~ 22:00 北京时间
感兴趣的朋友请提前点击本文左下角的“阅读原文”通过公司邮箱注册报名，本次活动将提供100个Zoom会议名额，建议提前15分钟通过电脑或者手机接入Zoom接入会议系统。我们将在周五统一将Zoom会议ID和接入密码发给注册各位的邮箱，无法及时收取邮件的请联系13127856862电话或者微信获取相关信息。
下面是本次技术讲座的一些议题简介，仅供参考。
1. M.2 L1.2低功耗问题全新的分析方法
M.2 L1.2低功耗问题经常出现很多难解的问题，采用传统的方法，例如示波器或者电源表，往往由于这些设备的buffer很小，所以即便能够和协议分析仪同步使用也经常无法轻松找到问题根源。
Quarch公司的Power Analysis Module允许在M.2等所有SSD接口上实现高分辨率，长时间、不间断抓取M.2 SSD进入L1.2的电压、电流、功耗，以及所有的sideband边带信号，可以有效地排除示波器在这方面的劣势（请访问文底部的链接，下载白皮书，参考4.2.3章节参照和示波器的对比）。
Quarch的Power Analysis 工具已在全球范围内成为分析M.2 L1.2低功耗的标准设备，例如美国的UNH IOL lab, Tom’s lab, MYCE lab, SSD Review lab, 瑞典的Nodic hardware lab,等等，以及国内众多知名的从事M.2 controllder设计以及M.2 SSD开发、验证、测试的公司。
图1 - PAM连接示意图
上图是PAM (Power Analysis Module)的使用连接图。中间为PAM模块，最右边为配合PAM模块的PCIe M.2 治具，该治具串接在笔记本M.2插槽和M.2 SSD之间，治具上有电路和芯片将电压、电流、功耗，以及所有的sideband边带信号实时采样、数字化后，然后通过治具尾部的Type-C USB 3.0线缆传输到中间的PAM模块，PAM模块通过USB或者网口连接管理电脑，将数据实时推送到电脑上的QPS （quarch power studio）软件展示。只要电脑硬盘够大，该软件可以实时采用几小时，几天都可以。
参见下图，使用QPS软件可以对于采样的数据进行实时分析或者后续的回溯分析。（请访问文底部的链接，下载白皮书，参考4.3.3章节：如何通过PAM在Linux和Windows下分析M.2 NVMe SSD低功耗问题）
图2 - PAM 界面
同时，如果配合SerialTek公司PCIe analyzer创新的基于时间轴的LTSSM展示和L1.2 packet/event解码功能，将可以帮你更快速地锁定问题，参见下图。
图3 – SerialTek创新LTSSM展示
上图是新型的LTSSM展示，由于笔记本M.2 SSD进、出低功耗非常迅速，一般都是微妙(us)级别，这同时会带来大量的TS1, TS2 的training过程，上面基于时间轴展示upstream, downstream两个方向的LTSSM状态转换，工程师可以非常方便的放大，缩小、平移这些状态，将鼠标放置在某个状态即可实时显示当时的状态，大大提高了问题分析的效率。
我们来做一个对比，下图向我们展示了基于PCIe规范标准的传统的LTSSM展示方式，工程师需要对每个状态点击打开进行查看，很不方便，效率也不高。
图4 - 传统的LTSSM分析展现
下面是SerialTek这种创新的LTSSM展示的演示视频，感兴趣可以点击观看。
2.UNH IOL compliance test演示
Quarch公司的热插拔模块被UNH IOL作为CTS认证测试的基本组件，即，当你的SSD要通过UNH IOL lab测试的时候，IOL脚本就是驱动Quarch模块进行测试。客户平时在自己实验室也可以使用Quarch Compliance Suite方便地实现UNH IOL的hotplug测试。参见下图。
图5 - compliance setup界面
图6 - compliance test result GUI
3. Gen5 SSD热插拔和插卡的故障仿真测试
这个部分将讲述针对PCIe Gen5的盘和卡的热插拔和故障仿真测试。
4. Gen5 SSD和插卡的电压拉偏、功耗测试、边带信号分析
这个部分将讲述针对PCIe Gen5的盘和卡的电源测试相关，以及sideband signal长时间问题追踪和分析。
欢迎下载《PCIe Gen 4&5总线协议分析和SSD测试工具白皮书Ver 6.30》文档，或者添加下面的微信索取。https://www.saniffer.com/中文/文档下载/
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