除了辐射测试外，静电测试也是困扰许多工程师的一大难题，下面与大家分享一个MTK平板电脑的静电整改方案：
测试环境如下图：
【现象描述】
在对该MID进行静电放电测试过程中，发现对USB端口施加接触±4kv的静电干扰时系统出现重启，在对耳机端口施加±8kv空气放电时，机器死机。
【原因分析】
（1）静电干扰直接影响到关键信号线。
（2）ESD电弧会产生一个频率范围在1-500MHz的强磁场，并感性耦合到邻近的每个布线环路中。
【整改对策】
一、整改措施1
主板底层参考地露铜处垫导电泡棉，使主板与屏后铁壳良好接触。（接地导体的电连续性设计不仅有利于辐射测试，对提高系统的抗ESD能力也极为重要。）
二、整改措施2
复位信号线靠近CPU端对地加1uf电容，建议同时串联一个几十ohm电阻。（由于机器出现重启现象，排除分析发现干扰通过空间耦合影响到复位信号线，在靠近CPU端对地加电容以减小复位信号的环路面积，降低天线效应。）
三、整改措施3
耳机端口信号线（左右声道，检测脚及模拟地）增加静电防护器件（整改过程中发现将耳机模拟地AGND断开后，样机静电测试情况有所改善，因此我们将问题点定位于AGND，在此处增加静电防护器件后样机不再出现死机现象。）
USB端口信号线（一对差分信号线、检测脚、电源）增加静电防护器件（对USB端口金属外壳施加静电干扰时，干扰信号在很难泄放到地的情况下，将耦合到USB信号线上，影响CPU性能）
【整改后情况】
接触±4kv静电测试：PASS
空气±8kv静电测试：PASS
