攻克传统小延迟缺陷瓶颈，Synopsys开发出新型ATPG技术

传统的自动化测试模型生成(ATPG)技术没有直接定位对90纳米和以下工艺愈发重要的小延迟缺陷问题。Synopsys与日本半导体技术学术研究中心 (STARC)合作开发出新型ATPG技术。

Synopsys测试自动化产品市场经理Chris Allsup指出，在90纳米及以下节点，工艺变化可引入影响时序关键路径的小延迟。尽管跃迁延迟( transition-delay)ATPG支持在线测试，它并不能发现最坏情况下的关键路径，缺乏定位小延迟缺陷所需的精确时序信息。

Synopsys解决方案采用Synopsys PrimeTime静态时序分析工具提供的pin-slack信息，将关键路径信息引入到ATPG工艺。ATPG和故障仿真工具就能依此创建关键路径的排名。

Allsup表示，STARC在过去两年里帮助开发并验证该技术，建立了一套用于评估这项新技术有效性的评价系统。他透露，新APTG技术将于明年某些时候产品化。将被用于 Synopsys的Galaxy测试平台。