漏电流问题亟待解决 30年长效电池或可期

在今年国际电子元件会议(IEDM)上的一项讨论重点是低功耗的电子设备，无论是有关改善电路设计的最新进展或是实现低功耗的其它设计因素影响。

例如，东芝公司研究人员描述如何以采用垂直(p)磁性穿隧接合的自旋传输磁性存储器(STT-MRAM)来取代高性能(HP)SRAM，从而为移动CPU降低功耗。而日本低功率电子协会(Low-power Electronics Association & Project)则介绍一种全新低功耗相变存储器。

然而，随着制程持续微缩带来漏电流的问题，我们就像是在滚轮上永远跑不到终点的黄金鼠一样：采用了新制程或新材料，不久就会面临更微小电路与更薄栅极氧化层带来的更多问题。

不过，在IEDM上与会者提到惠普(HP)公司在1981年开发的Voyager计算机(HP-10C)系列，它在二、三十年后的今日据说仍能以原来的电池持续运作。这款Voyager计算机功耗仅0.25mW，待机功耗约5-10nA，专为使用户以一组电池维持一整年的作业而设计。

当然，当时采用的是不同的材料、线宽较大，对于性能的要求也不像今日的手持设备要求这么严格。但是，也许有人会认为技术不断的进展总能让我们持续更早一步地解决漏电流的问题。当今的无线传感器网络已经发展得如此智能，但在某些情况下，电池寿命的最理想情况大约是十年(当然，我知道像Zigbee这样的无线元件并不是计算机……)。

由于现代电子设备相当复杂，我们通常都因应用需求而为其进行标准化了，因此，你认为不久的将来，可能彻底改善这些电子设备的电池使用寿命？实现像HP Voyager计算机运行30年之久的长效电池吗？

此外，在你所拥有的各种以电池供电的设备中，哪些设备具有最长的电池寿命呢？这些设备仍在持续运作中吗？如何使用才能让电池达到最长寿命？效能最高呢？请说说你的看法。

翻译：Susan Hong

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