基于MS269X系列矢量信号分析仪的高频器件测试技术-电子工程专辑

 集成功放测量软件的MS269X系列频谱仪能为客户节约测量时间的同时改善测量精度，使用户可以快速的建立和切换测试系统。更重要的是，与客户已有的IC testers结合，MS269X可支持高性价比，快速，高精度的测量来削减成本。

一、无线数字设备发射机特性测试技术

移动终端和个人电脑的无线数据功能已发展为多频带、多系统结构，导致对前端器件需求的迅速增加。目前，简单易用、轻便及低成本终端已成为市场趋势，由此引起市场对小巧、低成本且拥有更好性能的前端器件的需求迅速增加。

发射机功放和开关器件是影响发射机性能的两个关键前端器件。目前对这类器件的测试，可由信号源、频谱仪等独立的测量仪表组成测试方案，但由它们组成的测试方案进行测试时相当的费时。目前主流的测试方案是使用IC tester测试系统，此系统高速、高效但十分的昂贵。因此，在保证测试速度和精度的条件下降低测试成本成为器件测试行业首要考虑的问题。

考虑到当前的测试方案的缺点及降低测试成本两方面的因素，安立公司基于MS269XA系列频谱仪（带MS269xA-20矢量信号源选件）开发了一种全新的测试方案，此方案与IC testers具有相同的测试速度和精度。以下结合MX269074A功放测量软件，通过MS269X系列频谱仪测试WiMAX发射机功放来介绍此测量方案。

二、 WiMAX发射机功放测试问题

无线数字设备通过设计发射机功放来最大化移动终端的电池时间。一般情况下，若控制功放工作在输出功率的有效非线性区，总功率能够被有效抑制，但此区域会带来一定的信号失真。因此，需要在功放效率和失真之间寻找平衡。特别地，WiMAX技术中使用OFDM调制，功放工作在非线性区引起的相位延迟会恶化EVM指标。基于功放的这种特性，发射机放大器需要严格控制工作区，在产品规格所决定的功率区为每个测试项目做高精度功率校准。

但是，在诸如EVM、ACP等测试例上，测试仪表功率校准可重复性的误差将严重影响测量结果。如下图所示：不同的功率校准精度导致不同的测量可重复性。

[图 1]0.14, 0.05, 和0.03 dB的功率校准范围作为功放1dB压缩点目标输出功率精度，功率校准精度的增加，将会使EVM，ACP，和2HD可重复性相应增加。

[图 2] 功率校准误差和相位延迟对EVM的影响比对其他指标的影响大。