摘要:在NI技术研讨会上,NI的区域工程师周林和杨诚为我们讲述了下面三方面内容:1.下一代自动化测试系统发展的趋势和需求;2.软件定义的模块化测试系统架构;3.从直流到射频的综合功能测试。欢迎广大工程师朋友下载阅读。
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