当前产品设计中逐渐采用了大量的新器件和新材料,但是其特征分析和测试存在很多新的挑战。为了应对这些新兴的测试挑战,脉冲发生器正逐步成为一种重要的工具。参加本次研讨会了解如何在半导体器件、存储技术、材料研究和串行数据测试过程中(输出复杂的脉冲信号)应用复杂的脉冲输出信号。
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