深入探讨工业产品材料技术，香港科技园研讨会为工程师提供有效表面分析工具

深圳高新区和香港科技园将联合举办工业材料及光电子部件特性研讨会。这次研讨会探讨了在工业产品开发和人工分析扫描产品中许多材料特性技术，这次研讨会为工程师和管理者提供在光电子器件、材料分析、过程开发、失效分析及产品品质控制应用中的一些有效的、常用的表面分析工具。参加者将得到分析方法的知识及在以下方面有更多的了解：

1）表面分析技术包括XPS、Auger和ToF SIMS；

2)LED及显示器等光电子器件的测试，及这些技术怎样有效地应用在不同的科技和解决问题。

日期: 2007.9.21日（周五）下午

时间: 下午 2:30~5:20

费用:免费

会议地点：深圳高新区科苑南路虚拟大学园二楼报告厅

具体日程安排如下：

14：30~14：45 签 到

14：45~15：30

1)材料分析–––材料分析的工業应用簡介。

2)LED及屏幕显示器的测试介紹。 Mr. Silas Hung

15：30~16：15 固态照明(LED) 部件及显示器件的测试技術 Dr. Canny Kwan

16：15~17：00 工业中的表面分析技术，产品表面的厚度测量 Mr. Silas Hung

17：00~17：20 互动交流

联系人：张煜